Tessent
all
SilikonInsight
Fremskynde testoptagelse, fejlfinding og siliciumkarakterisering af enheder, der indeholder Tessent ATPG-, EDT-, BIST- og/eller IJTAG-teststrukturer i et automatiseret interaktivt miljø.
Tessent Yield Learning
Reducer tiden til at give efter, styre produktionsudfald og genvinde udbytte forårsaget af systematiske defekter. Ved at forstå, hvordan man styrer og optimerer test- og dataindsamlingsmiljøet, kan ydelseslæringsløsninger opsættes til at identificere systematiske fejl, der forårsager lavt udbytte, hvilket sparer tid.
Reducer kompleksiteten med Tessent Yield Learning-løsninger
Med stigende kompleksitet designer Tessent Yield Learning værktøjer til at reducere kompleksiteten uden at gå på kompromis med kvalitet eller rentabilitet. Vi hjælper kunderne med at tilpasse sig skiftende miljøer, samtidig med at vi reducerer time-to-market og reducerer omkostningerne.
Udforsk teknologier
Se mere
Hvidbog
all
Forbedre volumenscanningsdiagnosticeringshastigheden 10X
Introduktion af en ny teknik til at maksimere diagnosegennemstrømningen. Den dynamiske partitioneringsteknologi i Tessent Diagnosis muliggør en 50% reduktion i scanningsdiagnosetiden ved kun at bruge 20% af den typiske hukommelse.
