Hvorfor Tessent SiliconInsight?
Forøg produktiviteten kraftigt under siliciumvalidering og fejlfinding, hvilket fremskynder tiden til markedet. Tessent SiliconInsight-løsningen fungerer i et bordmiljø og kan tilsluttes ethvert fejlsøgnings-, performance- eller bring-up-kort med adgang til op til 120 enhedsnåle.
Valider testmønstre før første silicium
Valider testmønstre før første silicium ved hjælp af designet i en standardsimulator, injicer fejl, karakteriser potentielle fejlscenarier uden silicium.
Billig karakterisering med høj tilgængelighed
Desktop-fejlfindingsmiljø til ATPG, MBIST, LBIST og IJTAG gennem adgang til op til 120 enhedsstifter ved hjælp af tredjeparts USB-adaptere. Shmoo kapacitet til strøm og ur gennem GPIB.
Forbind kraften i IJTAG med ATE
ATE-connect-teknologien skaber en branchestandardgrænseflade for at eliminere kommunikationsbarrierer mellem proprietær, testerspecifik software og design-for-test (DFT) platforme.
Fremskyndende mønsteroptagelse på design med højt antal stifter
Lyt, mens Ari Krantz, DFT-ingeniør hos Broadcom, diskuterer accelererende mønsteropbygning på design med højt antal stifter, et industrielt casestudie ved hjælp af SiliconInsight-HP beta.
Overvind afkastbarrierer med PDF Solutions og Siemens
At bryde igennem afkastbarrierer og accelerere udbytterampen kræver nye løsninger, der udnytter de bedste teknologier på markedet. I dette webinar introducerer Siemens og PDF Solutions-teknologer en integreret, omfattende end-to-end-løsning, der inkluderer analyse, scanningsdiagnose og maskinlæring.
