Hvorfor Tessent Streaming Scan Network?
Tessent Streaming Scan Network leverer løftet om ægte hierarkisk plug-n-play DFT. Ved at afkoble DFT-konfiguration på kerneniveau fra DFT-ressourcer på chipniveau reduceres DFT-planlægnings- og implementeringsindsatsen dramatisk, samtidig med at produktionstestomkostningerne reduceres.
Fremskynd markedsføringstiden
Opnå en 10x produktivitetsgevinst ved hjælp af forenklet planlægning på chip-niveau. Ved at afkoble DFT på kerne- og chip-niveau kan komprimering på kerneniveau optimeres uden at overveje andre kerner eller ressourcer på chip-niveau.
Lavere testomkostninger
Ved at kombinere automatisk båndbreddeindstilling og lokal generering af DFT-signaler elimineres hvidrum i mønsteret praktisk talt.
Reducer effektprofilen med op til 90%
SSN giver en jævnere effektprofil ved hjælp af forskudte skift/fangsture og bedre samtidighed. Samtidige kerner, der skal testes, kan vælges programmatisk snarere end under design uden at påvirke routing på chip-niveau.
Hvordan SSN fremskynder tiden til markedet
En traditionel hierarkisk scanningstesttilgang har specifikke udfordringer, som kan forbedres drastisk ved hjælp af en pakketiseret testleveringsmekanisme. Tessent Streaming Scan Network (SSN) reducerer DFT-planlægningen og implementeringsindsatsen op til 5x ved hjælp af pakketiseret testlevering. Se hvad Pete Orlando har at sige om de seneste nyheder om Tessent SSN.
Fremtiden for pakketiseret test
Da pakketiseret levering af testdata bliver industristandarden for komplekse digitale halvlederdesign, forklarer Geir Eide, Senior Director, Product Management, hvorfor førende halvledervirksomheder har vedtaget Tessent SSN for at forbedre DFT-implementeringsproduktiviteten og produktionstesttiden.
Brugere opnår op til 10 x gevinst i DFT-implementering og produktivitet og op til 5 gange reduktion i testtid.
Med Tessent Streaming Scan Network-teknologi er vi i stand til at tilbyde vores kunder en skalerbar testadgangsløsning, der er ideel til nutidens og morgendagens avancerede IC-design. SSN reducerer betydeligt den indsats, der er nødvendig for at gøre komplekse designs meget testbare.