Efterhånden som chipdesign bliver stadig større og mere komplekse, kæmper traditionelle DRC-fejlfindingsmetoder for at følge med. Standardtilgange, der er afhængige af ASCII-resultatdatabaser, kan ofte ikke effektivt håndtere de enorme mængder fejl, der produceres i avancerede node- eller SoC-design i et tidligt stadium. Dette fører til langsom indlæsning, ufuldstændig diagnose og udvidede tidslinjer for fejlfinding, da ingeniører manuelt skal gennemse upraktisk store fejlsæt uden den vejledning og synlighed, der er nødvendig for hurtigt at identificere de mest kritiske årsager.
Calibre Vision AI-softwaren fra Siemens EDA leverer en transformativ løsning til moderne DRC-fejlfinding på chip-niveau. Ved at udnytte det yderst effektive OASIS-resultatformat og avanceret AI-drevet signalanalyse gør Calibre Vision AI det muligt for teams at indlæse og analysere milliarder af DRC-overtrædelser på få sekunder, intelligent gruppere relaterede fejl og intuitivt prioritere fejlfindingsindsatsen. Forbedrede visualiserings-, navigations- og samarbejdsværktøjer hjælper designere med nøjagtigt at lokalisere og løse overtrædelser på tværs af hele chippen, hvilket dramatisk accelererer fysiske verifikationscyklusser for selv de mest indviklede designs.
