Тъй като дизайнът на чипове става все по-голям и по-сложен, традиционните методологии за отстраняване на грешки в ДРК се борят да бъдат в крак. Стандартните подходи, разчитайки на бази данни с резултати от ASCII, често не могат ефективно да се справят с огромните обеми грешки, произведени в усъвършенствани възли или SoC проекти на ранен етап. Това води до бавно зареждане, непълна диагностика и удължени срокове за отстраняване на грешки, тъй като инженерите трябва ръчно да пресяват непрактически големи набори от грешки, без насоки и видимост, необходими за бързо идентифициране на най-критичните основни причини.
Софтуерът Calibre Vision AI от Siemens EDA предоставя трансформиращо решение за модерно отстраняване на грешки в DRC на ниво чип. Използвайки високоефективния формат на резултатите на OASIS и усъвършенстван анализ на сигнали, управляван от AI, Calibre Vision AI позволява на екипите да зареждат и анализират милиарди нарушения на ДРК за секунди, интелигентно да групират свързани грешки и интуитивно да приоритизират усилията за отстраняване на грешки. Подобрените инструменти за визуализация, навигация и сътрудничество помагат на дизайнерите точно да определят и разрешат нарушенията в целия чип, драстично ускорявайки физическите цикли на проверка дори за най-сложните дизайни.
