Skip to main content
此頁面使用自動翻譯顯示。 是否要改為用英語檢視?

為什麼選擇「SIMCENTER MICRED」?

非破壞性、可重複和標準化測試方法
Simcenter Micred 系列的硬體和軟體產品旨在評估電子元件在靜態和動態條件下的熱性能。熱暫態測試系統通過快速改變測試設備(DUT)的應用加熱功率並測量其溫度響應來工作。在校準階段,會根據用戶選擇的溫度敏感參數記錄接點溫度。這些方法符合廣泛採用的行業指引,例如 JEDEC 標準和 ECPE 汽車資格指南(AQG)。產生的數據用於產生熱阻抗輪廓,這可以深入了解元件的熱行為。

確定熱量度、熱可靠性和品質評估
然後使用阻抗設定檔來識別潛在的熱問題,例如熱路徑降低,熱阻的任何變化都可以跟踪到某個位置。它是診斷老化,損壞,故障等的熱效果的絕佳工具,並實時檢測線粘結斷裂,焊接疲勞,模具和基板裂縫。

在廣泛應用中提供高保真度
Simcenter Micred 測試工具提供一系列系統,專為滿足不同應用和行業的需求而設計。這些系統具有高精度、速度和精度的先進測量和控制技術。它們被研究中心以及半導體、消費性電子、汽車和 LED 行業使用在元件工程、原型製作和測試期間。

創新的遺產
Simcenter Micred 系列最初由布達佩斯科技與經濟大學 (BME) 電子設備系的研究人員開發的。西門子繼續推動這種創新傳統。

半導體封裝熱特性分析 — 熱量指標、可靠性至品質

觀看這個隨選網絡研討會,有關使用熱暫態測量技術的熱分析。

案例研究

基努斯設計

了解 KeenusDesign 如何在開發初期使用 Simcenter Micred 以非破壞性方式測試電子產品的熱屬性。

Person in black shirt standing against white wall with black border, holding a dark object.
Case Study

Shortening thermal test cycles and improving circuit board designs to meet thermal reliability requirements

公司:KeenusDesign

產業:Electronics, Semiconductor devices

地點:Higashiyamato-shi, Tokyo , Japan

西門子軟體:Simcenter Micred Power Tester, Simcenter Micred T3STER

「SIMCENTER MICRED」功能

探索 SIMCENTER MICRED 硬體產品

了解更多