能力：

• 根據時脈網域、功率領域、實體叢集分割掃描鏈
• 重複使用現有掃描區段/鏈和現有的位移寄存器
• 插入基於核心的專用和共享包裝單元格

Tessent ScanPro 包括 VersaPoint 測試點技術，除了增加邏輯 BIST 測試覆蓋範圍之外，還可以直接針對 ATPG 模式體積降低 2 倍至 4 倍。

整合到 Tessent Platform 的端對端自動化流程中，並包括先進的設計內部探討和編輯功能。內向探究基於 TCL 和一組全面的相關操作命令。