為什麼選擇「泰森特邏輯」？
Tessent LogicBist 可高效地與泰森任務模式和泰森特測試 Kompress 集成，為安全關鍵設備創建完整的系統內和製造測試解決方案。
改善測試覆蓋範圍
Tessent VersaPoint 測試點技術專為混合 TK/LBIST 應用而設計，同時提高了 ATPG 模式計數和邏輯 BIST 測試性，提高了 2%-4% 的 LBIST 覆蓋率。
符合系統內測試時間
透過觀察掃描技術 (OST) 在每個換位週期中觀察電路資料，而不僅僅在擷取時，也顯著降低了達到目標邏輯 BIST 測試涵蓋範圍所需的陣列數量。
提升測試效率
泰森特混合式 TK/LBIST 有效地結合了 Tessent TestKompress 和 Logic Bist 的邏輯架構，以提高測試品質，同時避免任何面積損，從而獲得 ATPG 壓縮和邏輯 BIST 的好處。
案例研究
英菲尼昂縮短 LBIST 測試時間，實現功能安全性
在本演講中，英菲尼昂的丹尼爾·蒂爾展示了 LogicBist 與觀測掃描技術的使用，該技術被證明可大幅減少 Infineon 汽車微控制器（MCU）的邏輯內置自測（LBIST）測試時間。
