Tessent Advanced DFT

Tessent BoundaryScan

Tessent BoundaryScan 是一款完整的解決方案，用於自動生成和整合晶片上測試基礎架構、邊界掃描和測試訪問端口。

為什麼選擇 Tessent BoundaryScan？

Tessent BoundaryScan 邏輯可在整個 IC 的使用壽命中存取，包括所有封裝層級的製造測試、矽除錯和系統驗證，以便在出貨前偵測瑕疵，降低現場支援成本並提高客戶滿意度。

自動產生 TAP 控制器和邊界掃描單元的 RTL 代碼並將其整合到設計 RTL 中。產生用於邏輯合成、模擬測試台以及製造測試的測試模式的指令碼。

Tessent 邊界掃描支援 IEEE 1149.1 自訂邊界掃描單元和非接觸式 I/O 測試，並提供 1149.6 邊界掃描支援的選項。

自動將 IJTAG 網路和儀器連接到新插入的 TAP 控制器，並產生產生產生儀器連線語言檔案。I/O 測試以程序描述語言 (PDL) 格式產生。

簡報

此影片展示了 Tessent 邊界掃描 (1149.1) 在頂層的實作流程，以及 Tessent 薄殼內嵌邊界掃描在實體圖塊層級的實作流程。

在不到五分鐘內，視頻展示了如何使用 Tessent IJTAG 輕鬆將 BSDL（邊界掃描描述語言）文件轉換為其 ICL（儀器連接語言）文件等效。

技術概述

此視頻演示了在 ATPG 期間將邊界掃描作為壓縮或未壓縮鏈的使用，因此無需接觸測試設備（DUT）的所有接腳。

學習途徑

了解如何將 MBIST、邊界掃描、IJTAG、掃描插入和測試 Kompress 實作到設計中，以使用多種 Tessent 工具獲得高測試品質。