Tessent Advanced DFT
Tessent AnalogTest
Tessent 類比測試將模擬測試模式開發和驗證從工程數月縮短為工程時數。作為目前唯一可用的商業解決方案，它是最有效的方法，同時降低測試成本的最有效方法。
為什麼選擇 Tessent 類比測試？
測試類比電路傳統上是一個繁瑣的手動過程。與傳統規格測試相比，Tessent 類比測試可減少矽類比測試時間 10 倍至 100 倍。
降低測試成本
模擬測試需要在昂貴的混合信號測試儀上進行長時間。Tessent 類比測試產生最小衝擊 DFT 電路和數位測試模式，在僅用數字測試儀上在 <1 ms 內測試模擬電路塊測試。
提高工程效率
Tessent 類比測試將類比 DFT 和測試開發轉換為快速、自動化的過程。結構和規格測試會在 ATE 或系統內執行之前，在模擬中進行驗證，從而縮短除錯時間。
最大化類比測試覆蓋範圍
類比電路的規格測試可以具有較低的測試覆蓋範圍，以最大程度地減少流量基於數位掃描的 DFT 和 ATPG 可提供模擬測試模式，實現更高瑕疵覆蓋範圍，而不會增加產量損失。
使用 Tessent 類比測試覆蓋範圍縮短上市時間
了解如何利用 Tessent 類比測試，將類比和混合信號電路的製造測試流失降到最低，並改善產品上市時間。