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利用系統級數據來優化多核 AI 晶片
機器學習 (ML) 和人工智能 (AI) 應用程序的 SoC 的新型多核心架構預期將在電源效率方面帶來巨大改進。
Ankur Gupta 在 ITC 提供的這份鑽石簡報中,探索 Tessent 矽生命週期解決方案,從可測試性 (DFT) 設計到可靠電子系統的生命監控。
探索如何使用即時電壓遙測和功能監控來增強生命中的系統觀測性。
一種聯合解決方案,可將來自 Movellus Aeonic Insight™ 掉落探測器的實體上模式遙測與 Tessent Embedded Analytics 的功能監控解決方案結合。通過硬件交叉觸發來鏈接這些儀器,系統提供了單一的時間調整的視圖,了解發生的情況和原因,直接將特定指令序列或匯流排活動與導致它們的實體 PDN 事件相關聯。

