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實現持續監控和優化

Tessent Embedded Analytics 解決方案可用於在整個 SoC 的生命週期中產生運作狀況和運作指標。基於 Tessent 嵌入式開發套件的嵌入式軟體可驅動 Tessent Embedded Analytics 智慧顯示器,建立獨立的晶片上監控系統。

電子芯片

使用嵌入式軟體加強 SoC 除錯/最佳化

探索嵌入式軟體如何為晶片上顯示器提供洞見解的卓越替代方案

影片

DFT 至電子系統的生命監控

Ankur Gupta 在 ITC 提供的這份鑽石簡報中,探索 Tessent 矽生命週期解決方案,從可測試性 (DFT) 設計到可靠電子系統的生命監控。

影片

偵測、診斷和偵錯生命中的系統

探索如何使用即時電壓遙測和功能監控來增強生命中的系統觀測性。

白皮書

增強系統可觀察性

一種聯合解決方案,可將來自 Movellus Aeonic Insight™ 掉落探測器的實體上模式遙測與 Tessent Embedded Analytics 的功能監控解決方案結合。通過硬件交叉觸發來鏈接這些儀器,系統提供了單一的時間調整的視圖,了解發生的情況和原因,直接將特定指令序列或匯流排活動與導致它們的實體 PDN 事件相關聯。

三維晶體積體藍色
白皮書

長尾延遲和伺服器調試

進一步了解長尾延遲和伺服器調試的影響。了解避免延遲和效能調試的詳細軟體策略。

一群人站在一個大屏幕前,顯示有關趨勢技術的圖形和文本。