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主要功能

設計最佳化的綜合解決方案

Calibre YieldAnalyzer 工具支援許多領先的鑄造廠。Calibre YieldAnalyzer 技術支援 CAA、DFM 評分以及透過備援檢查。它可以幫助客戶分析設計,以便他們可以優化製造的佈局。

ID 系統問題

啟用 DFM 評分

DFM 評分可量化設計對系統問題的敏感度,如規則套組表示。若要實作 DFM 評分,系統會根據根據根據根據基本建議的規則優先順序來配置規則套組的建議規則清單和每個規則的權重係數估計。

積體晶圓的彩色圖像 | 機芯片設計
降低風險

用於隨機缺陷的 CAA 和通過備援分數設計

Calibre YieldAnalyzer 工具在所有基層和互連圖層上執行關鍵區域分析,以識別佈局區域中存在對隨機粒子缺陷的過多弱點 (例如短路和開啟)。CAA 甲板配置了每個製程和缺陷類型(開/短)的圖層信息鑄造瑕疵密度分佈。

廠房工作人員檢查矽晶圓 |

Calibre YieldAnalyzer 特色資源

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品質諮詢服務

我們協助您採用、部署、自訂和最佳化複雜的設計環境。直接訪問工程和產品開發,讓我們可以充分發揮領域和主題專業知識。

支援中心

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機芯片設計與製造

Calibre 工具套件可在所有流程節點和設計樣式中提供準確、高效、全面的 IC 驗證和最佳化,同時最大限度地減少資源使用量和磁帶出排程。