非破坏性、可重复和标准化的测试方法
Simcenter Micred 系列硬件和软件产品旨在评估电子元件在静态和动态条件下的热性能。热瞬态测试系统的工作原理是快速改变被测设备（DUT）的施加加热功率，并测量其温度响应。在校准阶段，根据用户选择的温度敏感参数记录结温。这些方法符合广泛采用的行业指南，例如JEDEC标准和ECPE汽车认证指南（AQG）。生成的数据用于生成热阻抗曲线，从而深入了解组件的热行为。
确定热指标、热可靠性和质量评估
然后使用阻抗曲线来识别潜在的热问题，例如热路退化，并且可以将热阻的任何变化追踪到某个位置。它是诊断老化、损坏、失效等的热效应的绝佳工具，可实时检测线键断裂、焊接疲劳、芯片和基板裂纹。
适用于各种应用的高保真度
Simcenter Micred 测试工具提供了一系列旨在满足不同应用和行业需求的系统。这些系统采用先进的测量和控制技术，具有很高的精度、速度和精度。它们被研究中心以及半导体、消费电子、汽车和发光二极管行业在组件工程、原型设计和测试期间使用。
创新的遗产
Simcenter Micred系列最初是由布达佩斯科技与经济大学（BME）电子器件系的研究人员开发的。Siemens 继续将这一创新遗产发扬光大。
