Tessent Yield Learning
Tessent YieldInsight
Tessent YieldinSight 会对诊断数据进行统计分析，以便在进行任何失效分析之前识别和分离系统的产量限制器。Tessent YieldinSight 专门用于理解和识别扫描测试数据中的产量损失，并使批量诊断结果切实可行。
为什么 Tessent YieldinSight？
使用专业的数据挖掘和统计分析技术，Tessent YieldinSight消除了诊断数据中的噪声，以确定根本原因，确定系统的产量限制器并选择最佳设备进行故障分析。
识别隐藏的收益限制器
Tessent YieldinSight 可识别系统产量损失的原因，并在选择模具进行失效分析的过程中提供指导。
从诊断结果中移除噪音
根本原因解卷积 (RCD) 技术可去除诊断结果中的噪声并确定根本原因。它选择和筛选失败的死亡数量，对因类似原因失效的骰子进行分组。
适用于 Tessent Diansoics
分析Tessent Diagnostions的布局感知和单元感知诊断结果，以便在进行任何故障分析之前识别和分离系统产量限制器，从而无需进行昂贵的物理定位。
网络研讨会
一种新的可逆扫描链技术
本次西门子EDA和高通联合网络研讨会由ASM International主办，聚焦：
- 在收益率上升中使用连锁诊断的动机
- 连锁诊断概述，可逆链
- 可逆链技术和诊断
- 可逆链的实现
- 测试芯片的硅结果
