Tessent Yield Learning

Tessent Diagnosis

Tessent Diagnostions 使用来自制造测试、扫描测试模式和设计信息的失效数据，确定导致故障的缺陷的位置和分类。

为什么 Tessent Diasnostics？

Tessent Diagnostions 解决方案可识别缺陷的类型和位置，为诊断驱动的产量和失效分析奠定基础。

使用布局感知和单元感知技术来确定缺陷最可能的故障机制、逻辑位置和物理位置。

执行晶体管级诊断，识别标准电池内部的缺陷。此功能利用了与细胞感知 ATPG 相同的细胞感知故障模型，适用于任何模式类型。

在高级工艺节点（5nm 及以下）上将诊断提高>1.5 倍。为扫描链缺陷提供精确的晶体管级隔离。确保可以精确地隔离深点缺陷。

诊断结果可以与 DFM 分析结果相关联，以确定关键设计特征。Tessent Diagnossion 可以从 Calibre 读取结果数据库 (RDB)。

Tessent Diagnostions 是扫描诊断技术的市场领导者，具有最高的准确率。在使用Tessent Diagnostion生成的报告中，有80％以上已通过故障分析流程得到确认。