Tessent VersaPoint测试点技术专为混合TK/LBIST应用而设计，同时提高了ATPG模式数量和逻辑BIST可测试性，将LBIST的覆盖范围提高了2％-4％。

通过观察每个移位周期的电路数据，不仅是在捕获过程中，观察扫描技术（OST）可以显著减少达到目标逻辑 BIST 测试覆盖范围所需的模式数量。

Tessent Hybrid TK/LBIST 高效地结合了 Tessent TestKompress 和 LogicBist 的逻辑架构，提高了测试质量，同时避免了任何面积损失，从ATPG压缩和逻辑BIST中获益。