Tessent Advanced DFT

Tessent In-System Test

需要对设备进行持续的测试和监控，以确保在整个运行过程中实现最佳性能、可靠性和安全性。Tessent In-System Test 支持在芯片生命周期内应用高质量的确定性测试模式进行系统内/现场测试。

为何使用 Tessent In-System Test？

与传统逻辑 BIST 相比，Tessent In-System Test 提供嵌入式硬件和必要软件，以实现高质量确定性测试模式的应用，同时缩短测试时间。

系统内确定性测试使您能够随着新的缺陷和故障模型的出现或测试内容需求的变化而更改测试模式。

系统内测试控制器从总线接口获取数据，在内部驱动Streaming Scan Network总线网络，将扫描数据包应用到内核进行测试，从而缩短测试时间并改善测试期间的功率分布。

通过在系统内应用中重复使用基于 IJTAG 和 SSN 的模式，重复使用现有的片上测试基础架构，在产品生命周期内针对潜在的、间歇性的、随机的、与年龄相关的缺陷。

提供应对表现为静默数据错误/损坏的老化和环境因素所需的全自动硬件和软件功能。测试内容可以随着测试要求的变化而改变。

了解如何使用Tessent软件使您能够与新兴标准和法规保持一致，同时提供一套完整的端到端解决方案，以满足当今汽车集成电路开发的需求。

安全相关设备必须符合 ISO 26262 标准中的质量和可靠性要求。本文描述了用于安全关键集成电路集成电路集成电路测试的Tessent技术。

白皮书

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