Tessent Advanced DFT

Tessent BoundaryScan

Tessent BoundaryScan 是一款用于自动生成和集成片上测试基础架构、边界扫描和测试接入端口的完整解决方案。

为何选择Tessent BoundaryScan？

可以在集成电路的整个生命周期内访问Tessent BoundaryScan逻辑，包括所有封装级别的制造测试、芯片调试和系统验证以在发货前检测缺陷，从而降低现场支持成本并提高客户满意度。

自动生成 TAP 控制器和边界扫描单元的 RTL 代码并将其集成到设计 RTL 中。为逻辑合成、仿真测试平台和制造测试测试模式生成脚本。

Tessent 边界扫描支持 IEEE 1149.1 自定义边界扫描单元和非接触式 I/O 测试，并可选择支持 1149.6 边界扫描。

自动将 IJTAG 网络和仪器连接到新插入的 TAP 控制器，并生成生成的仪器连接语言文件。I/O 测试以过程描述语言 (PDL) 格式生成。

演示

该视频展示了在Tessent Shell中顶层的Tessent边界扫描（1149.1）和在物理区块层面的Tessent嵌入式边界扫描的实现流程。

在不到五分钟的时间内，该视频展示了如何使用Tessent IJTAG轻松地将BSDL（边界扫描描述语言）文件转换为其等效的ICL（仪器连接语言）文件。

技术概述

该视频演示了在 ATPG 期间使用边界扫描作为压缩链或未压缩链，因此无需接触被测设备 (DUT) 的所有引脚。

学习路径

学习如何在您的设计中实现 MBIST、BoundaryScan、IJTAG、扫描插入和 testKompress，以使用多个 Tessent 工具获得较高的测试质量。