Tessent Advanced DFT
Tessent AnalogTest
Tessent AnalogTest 将模拟测试模式的开发和验证从工程月缩短到工程时间。作为目前唯一可用的商业解决方案，它是最大限度地提高缺陷覆盖率同时降低测试成本的最有效方法。
为何选择Tessent AnalogTest？
传统上，测试模拟电路是一个繁琐的手动过程。与传统规格测试相比，Tessent AnalogTest可将硅模拟测试时间缩短10倍至100倍。
降低测试成本
模拟测试需要在昂贵的混合信号测试仪上进行漫长的测试时间。Tessent AnalogTest 生成影响最小的 DFT 电路和数字测试模式，在纯数字测试仪上在 <1 ms 的时间内测试模拟电路模块。
提高工程效率
Tessent AnalogTest 将模拟 DFT 和测试开发转变为一个快速、自动的流程。结构和规格测试在仿真中经过验证，然后在 ATE 或系统内运行，从而缩短了调试时间。
最大限度地扩大模拟测试覆盖范围
模拟电路的规格测试可以降低测试覆盖范围，从而最大限度地减少产量损失。基于数字扫描的 DFT 和 ATPG 可以提供模拟测试模式，在不增加产量损失的情况下实现更高的缺陷覆盖率。
借助 Tessent AnalogTest 报道缩短上市时间
了解如何使用Tessent AnalogTest最大限度地减少模拟和混合信号电路的制造测试逃避次数并缩短产品的上市时间。