生活监测

在 Ankur Gupta 在 ITC 发表的这场钻石级演示中，探索 Tessent Silicon Lifecycle Solutions 从可测试性设计 (DFT) 到可靠电子系统的生命周期监测。

一种联合解决方案，将来自Movellus Aeonic Insight™ Droop Detector的物理片上遥测与Tessent Embedded Analytics的功能监控解决方案相结合。通过硬件交叉触发将这些仪器连接起来，该系统为发生的事情和原因提供了一个与时间对齐的单一视图，将特定的指令序列或总线活动与导致它们的物理 PDN 事件直接关联起来。