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为什么 Questa One Sim FX 进行功能故障分级?

Tessent 对高级故障模型格式的自动化流程和支持为提高高性能和复杂集成电路的可靠性提供了独特的解决方案。

解决故障覆盖差距

解决只能通过功能模式激活的故障,以改善整体缺陷覆盖范围。

增加故障覆盖范围

将故障覆盖范围扩大到结构故障模型范围之外。

混合信号电路的覆盖范围

功能故障分级有助于验证安全电路和模拟模块等混合信号电路的正确运行和稳健性。

Questa One Sim FX

通过功能故障分级增强缺陷覆盖范围

虽然基于 ATPG 扫描的测试对于检测低级结构故障至关重要,但功能故障分级有助于确保设备的整体功能完整性得以维持,测试模式反映芯片在实际使用中将要经历的条件。这种结构和功能故障分析的组合有助于提供更全面、更稳健的测试策略。

蓝色印刷电路板上电子芯片的特写视图。

加深你对 Questa One Sim FX 的了解

支持中心

西门子 eda 为 Questa One Sim FX 和我们所有的产品提供世界一流的客户支持。

Verification Academy

验证学院提供使组织功能验证流程能力成熟所必需的技能,为高层次价值主张和低层次细节之间架起了一座方法论桥梁。

验证视野博客

为了帮助理解先进的功能验证技术以及如何最有效地应用它们,请访问我们的博客,了解有关概念、价值观、标准、方法和示例的见解和最新动态。