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技术论文

曲线掩模形状的 MRC

作为提高晶圆光刻性能的一种方法,在光学近距离校正 (OPC) 中生成曲线掩膜形状而不是纯矩形形状正变得越来越现实。使用曲线形状的主要好处是改进了工艺窗口,这意味着在曝光期间,晶圆图像对剂量和聚焦条件的敏感度降低。随着最新高性能集群计算能力的提高以及多光束掩模刻机 (MBMW) 的问世,这些晶圆光刻优势可以在目前正在开发的技术节点上实现。

生产曲线形状的口罩面临的一个非常实际的挑战是可靠的口罩规则检查(MRC)的可用性。OPC 引擎不仅需要生成可制造的形状,而且口罩车间还需要一种方法来验证传入的口罩数据是否可制造。对于曲线蒙版形状,这比矩形掩膜形状更具挑战性,因为简单的宽度和空间检查已不再足够。

在本文中,我们讨论了一组全面的 MRC 限制,并演示了 MRC 发动机在曲线输入数据上运行的有效性。此处使用的规则包括暴露要素的最小宽度、暴露要素之间的最小间距、凸面和凹形的最小曲率以及暴露要素的最小面积。

一堆带有蓝色和橙色几何形状的白纸
主要功能

用于掩模验证的全芯片曲线 MRC 套件

Calibre 包含一系列全面的检查,用于在口罩制造之前验证整个曲线掩模布局的可制造性,包括曲率、宽度、空间、面积等方面的掩模规则,以确保为高级口罩生成的复杂非矩形形状是可制造的。

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