Tessent YieldInsight
Tessent YieldInsight phân tích thống kê dữ liệu chẩn đoán để xác định và tách các giới hạn năng suất có hệ thống trước khi thực hiện bất kỳ phân tích lỗi nào. Tessent YieldInsight chuyên để hiểu và xác định tổn thất năng suất từ dữ liệu kiểm tra quét và làm cho kết quả chẩn đoán khối lượng có thể thực hiện được.
Tại sao Tessent Yieldinsight?
Sử dụng các kỹ thuật khai thác dữ liệu và phân tích thống kê chuyên biệt, Tessent YieldInsight loại bỏ nhiễu từ dữ liệu chẩn đoán để xác định nguyên nhân gốc rễ cơ bản, xác định các giới hạn năng suất có hệ thống và chọn các thiết bị tốt nhất để phân tích lỗi.
Xác định các giới hạn năng suất ẩn
Tessent YieldInsight xác định nguyên nhân gây mất năng suất có hệ thống và cung cấp hướng dẫn thông qua quá trình lựa chọn khuôn để phân tích lỗi.
Loại bỏ tiếng ồn khỏi kết quả chẩn đoán
Công nghệ giải mã nguyên nhân gốc rễ (RCD) loại bỏ nhiễu khỏi kết quả chẩn đoán và xác định nguyên nhân gốc rễ cơ bản. Nó chọn và lọc các quần thể chết thất bại, nhóm chết đang thất bại vì những lý do tương tự.
Hoạt động với Tessent Diagnosis
Phân tích kết quả chẩn đoán nhận biết bố trí và nhận thức tế bào từ Tessent Diagnosis để xác định và tách các bộ giới hạn năng suất có hệ thống trước khi thực hiện bất kỳ phân tích lỗi nào, loại bỏ nhu cầu định vị vật lý tốn kém.
Công nghệ chuỗi quét đảo ngược mới
Được tổ chức bởi ASM International, hội thảo trên web chung này giữa Siemens EDA và Qualcomm làm nổi bật:
- Động lực sử dụng chẩn đoán chuỗi trong đợt tăng năng suất
- Tổng quan về chẩn đoán chuỗi, chuỗi đảo ngược
- Công nghệ và chẩn đoán chuỗi đảo ngược
- Thực hiện các chuỗi đảo ngược
- Kết quả silicon từ chip thử nghiệm
