Tessent MemoryBist cung cấp một giải pháp hoàn chỉnh để kiểm tra tốc độ, chẩn đoán, sửa chữa, gỡ lỗi và xác định đặc tính của bộ nhớ nhúng. Tận dụng kiến trúc phân cấp linh hoạt, khả năng tự kiểm tra và tự sửa chữa tích hợp có thể được tích hợp trong các lõi riêng lẻ cũng như ở cấp cao nhất.
Tessent MemoryBist, bộ nhớ tự kiểm tra tích hợp hàng đầu trong ngành, bao gồm quy trình tự động hóa toàn diện độc đáo cung cấp kiểm tra quy tắc thiết kế, lập kế hoạch kiểm tra, tích hợp và xác minh tất cả ở cấp độ RTL hoặc cổng.
Tessent MemoryBist ECC nâng cao độ tin cậy, cải thiện chất lượng thử nghiệm và bảo vệ chống lại các khuyết tật lão hóa. Tiêu chí đạo/thất bại có thể tùy chỉnh của nó cho phép kết hợp tối ưu giữa dự phòng bộ nhớ và mã sửa lỗi.
Tessent MemoryBist NVM cung cấp kiểm tra và sửa chữa linh hoạt, giảm chi phí thử nghiệm sản xuất và nâng cao độ tin cậy. Các thuật toán dành riêng cho NVM tự động cho phép các chế độ truy cập chuyên biệt và hoạt động với tùy chọn ECC. Có số. đầu ngày 26
BAP tiên tiến cung cấp giao diện có thể định cấu hình để tối ưu hóa thử nghiệm trong hệ thống. Nó cũng hỗ trợ giao thức độ trễ thấp để định cấu hình bộ điều khiển BIST bộ nhớ, thực hiện các bài kiểm tra Go/NoGo và theo dõi trạng thái đạo/thất bại.
Các thuật toán kiểm tra bộ nhớ có thể được mã hóa cứng vào bộ điều khiển Tessent MemoryBist, sau đó áp dụng cho mỗi bộ nhớ thông qua điều khiển thời gian chạy. Điều này cho phép bạn chọn các thuật toán kiểm tra ngắn hơn khi quá trình sản xuất trưởng thành.
Tùy chọn sửa chữa Tessent MemoryBist giúp loại bỏ sự phức tạp và chi phí liên quan đến các luồng sửa chữa bên ngoài. Nó kiểm tra và sửa chữa vĩnh viễn tất cả các bộ nhớ bị lỗi trong một con chip hầu như không sử dụng tài nguyên bên ngoài.
Xem Etienne Racine, Giám đốc sản phẩm Tessent, nói về cách Tessent MemoryBist có thể giúp tối đa hóa chất lượng thử nghiệm, giảm thiểu thời gian thử nghiệm, cải thiện năng suất và sửa chữa bộ nhớ với kiến trúc linh hoạt của nó.
Tìm hiểu cách sử dụng phần mềm Tessent cho phép bạn phù hợp với các tiêu chuẩn và quy định mới nổi trong khi cung cấp một bộ giải pháp đầu cuối hoàn chỉnh để giải quyết các yêu cầu của sự phát triển IC ô tô hiện nay.
Bài báo này mô tả những lợi thế của việc sử dụng kiến trúc bus chia sẻ để kiểm tra và sửa chữa bộ nhớ trong lõi iPS và trình bày tính tự động hóa có sẵn trong Tessent MemoryBist.
Nghiên cứu điển hình này mô tả cách ON Semiconductor sử dụng luồng Tessent MemoryBist phân cấp để giảm thời gian chèn BIST bộ nhớ xuống 6X.
