Tại sao chọn Tessent LogicBist?
Tessent LogicBist tích hợp hiệu quả với Tessent MissionMode và Tessent TestKompress để tạo ra một giải pháp kiểm tra trong hệ thống và sản xuất hoàn chỉnh cho các thiết bị quan trọng về an toàn.
Cải thiện phạm vi kiểm tra
Được thiết kế cho các ứng dụng TK/LBIST lai, công nghệ điểm kiểm tra Tessent VersaPoint cải thiện số lượng mẫu ATPG và khả năng kiểm tra BIST logic cùng một lúc, cải thiện độ phủ sóng LBIST từ 2% -4%.
Đáp ứng thời gian kiểm tra trong hệ thống
Bằng cách quan sát dữ liệu mạch ở mỗi chu kỳ ca, không chỉ trong quá trình thu, Công nghệ Quét Quan sát (OST) làm giảm đáng kể số lượng mẫu cần thiết để đạt được vùng phủ sóng kiểm tra BIST logic mục tiêu.
Tăng hiệu quả kiểm tra
Tessent Hybrid TK/LBIST kết hợp hiệu quả kiến trúc logic của Tessent TestKompress và LogicBist để cải thiện chất lượng kiểm tra đồng thời tránh mọi hình phạt khu vực, gặt hái được lợi ích của cả nén ATPG và BIST logic.
Infineon giảm thời gian kiểm tra LBIST để đảm bảo an toàn chức năng
Trong bài thuyết trình này, Daniel Tille của Infineon cho thấy việc sử dụng LogicBist với Công nghệ Quét Quan sát, được chứng minh là làm giảm đáng kể thời gian kiểm tra tự kiểm tra tích hợp logic (LBIST) cho vi điều khiển Infineon Automotive (MCU).
