Sách trắng
all
Khai thác dữ liệu cấp hệ thống để tối ưu hóa nhiều chip AI
Kiến trúc đa lõi mới của SoC cho các ứng dụng học máy (ML) và trí tuệ nhân tạo (AI) dự kiến sẽ mang lại những cải tiến lớn về hiệu quả năng lượng.
Thực hiện giám sát và tối ưu hóa liên tục
Giải pháp Tessent Embedded Analytics có thể được sử dụng để tạo ra các số liệu về tình trạng và hoạt động trong suốt vòng đời của SoC. Phần mềm nhúng dựa trên Tessent Embedded SDK có thể điều khiển màn hình thông minh Tessent Embedded Analytics để tạo ra một hệ thống giám sát trên chip khép kín.
Video
DFT để giám sát trong đời cho các hệ thống điện tử
Khám phá Tessent Silicon Lifecycle Solutions từ thiết kế cho khả năng kiểm tra (DFT) đến giám sát trong đời cho các hệ thống điện tử đáng tin cậy trong bài thuyết trình Diamond này do Ankur Gupta trình bày tại ITC.
Video
Phát hiện, chẩn đoán và gỡ lỗi hệ thống trong đời
Khám phá cách tăng cường khả năng quan sát hệ thống trong cuộc sống bằng cách sử dụng đo điện áp từ xa thời gian thực và giám sát chức năng.
Sách trắng
Tăng cường khả năng quan sát của hệ thống
Một giải pháp chung kết hợp phép đo từ xa vật lý trên khuôn từ Máy dò rơi Movellus Aeonic Insight™ với các giải pháp giám sát chức năng từ Tessent Embedded Analytics. Bằng cách liên kết các công cụ này thông qua kích hoạt chÉO phần cứng, hệ thống cung cấp một cái nhìn duy nhất, căn chỉnh theo thời gian về những gì đã xảy ra và tại sao, tương quan trực tiếp các chuỗi lệnh cụ thể hoặc hoạt động bus với các sự kiện PDN vật lý gây ra chúng.
Sách trắng
Độ trễ đuôi dài và gỡ lỗi máy chủ
Đọc thêm về tác động của độ trễ đuôi dài và gỡ lỗi máy chủ. Hiểu các chiến lược phần mềm chi tiết để tránh độ trễ và gỡ lỗi hiệu suất.
