Questa One Sim FX là một trình mô phỏng hiệu suất cao được sử dụng trong Design-For-Test (DFT) để phân loại lỗi chức năng để tăng cường độ bao phủ lỗi cho các IC phức tạp. Tích hợp với Tessent TestKompress dẫn đầu thị trường cung cấp một giải pháp mạnh mẽ để tiếp cận không có khuyết tật phần trên triệu (DPPM).
Quy trình tự động và hỗ trợ định dạng của Tessent cho các mô hình lỗi tiên tiến cung cấp một giải pháp độc đáo để cải thiện độ tin cậy của các IC phức tạp và hiệu suất cao.
Giải quyết các lỗi chỉ có thể được kích hoạt bởi các mẫu chức năng để cải thiện phạm vi bảo hiểm khuyết tật tổng thể.
Tăng phạm vi bảo hiểm lỗi ngoài phạm vi của các mô hình lỗi cấu trúc.
Phân loại lỗi chức năng giúp xác minh hoạt động chính xác và độ bền của các mạch tín hiệu hỗn hợp như mạch bảo mật và khối tương tự.
Mặc dù thử nghiệm dựa trên quét ATPG là rất quan trọng để phát hiện lỗi cấu trúc cấp thấp, phân loại lỗi chức năng giúp đảm bảo rằng tính toàn vẹn chức năng tổng thể của thiết bị được duy trì và các mẫu thử nghiệm phản ánh các điều kiện mà chip sẽ gặp phải trong việc sử dụng trong thế giới thực. Sự kết hợp giữa phân tích lỗi cấu trúc và chức năng này giúp cung cấp một chiến lược thử nghiệm toàn diện và mạnh mẽ hơn.
Siemens EDA cung cấp hỗ trợ khách hàng đẳng cấp thế giới cho Questa One Sim FX và tất cả các sản phẩm của chúng tôi.
Học viện Xác minh cung cấp các kỹ năng cần thiết để hoàn thiện khả năng quy trình xác minh chức năng của tổ chức, cung cấp cầu nối phương pháp luận giữa các đề xuất giá trị cấp cao và các chi tiết cấp thấp.
Để hỗ trợ hiểu biết về các công nghệ xác minh chức năng tiên tiến và cách áp dụng chúng một cách hiệu quả nhất, hãy truy cập blog của chúng tôi để biết thông tin chi tiết và cập nhật về các khái niệm, giá trị, tiêu chuẩn, phương pháp luận và ví dụ.
