Tận dụng nhiều nền tảng thiết kế đến sản xuất
Các giải pháp Calibre Deficient Management thực hiện nhóm lỗi dựa trên đối sánh mẫu và tận dụng DRC/LVS cho các thuộc tính thiết kế dựa trên vị trí lỗi và phân tích mức độ nghiêm trọng ròng. Việc tích hợp liền mạch với các công cụ thiết kế tạo điều kiện kết nối trực tiếp giữa thiết kế vật lý và kiểm tra lỗi.
Đầu dò chÉO để phân tích thiết kế
Calibre Deficient Management GUI tích hợp các chức năng phân tích thiết kế Calibre khác nhau và cung cấp các tính năng phân tích hướng dẫn thiết kế dựa trên lỗi khác nhau để người dùng có thể dễ dàng xác định và khắc phục nguyên nhân gốc rễ của lỗi.
Lựa chọn từ kiểm tra BFI đến phân tích SEM
Calibre Deficient Management cung cấp các ứng dụng lấy mẫu xuống bằng cách tích hợp với các kỹ thuật Calibre SONR, một phương pháp dự đoán và xếp hạng dựa trên máy học, để cải thiện tỷ lệ gặp lỗi và làm nổi bật các mẫu có hệ thống với ngân sách lấy mẫu hạn chế để xem xét SEM.
Phân tích khuyết tật dựa trên hình ảnh SEM
Khả năng xử lý hình ảnh SEM của Calibre Deficient Management cho phép neo chính xác giữa vị trí lỗi trên mặt nạc/tấm wafer và vị trí lỗi trên bố cục. Các kỹ thuật như căn chỉnh SEM-to-layout, trích xuất đường viền và phân loại lỗi tự động dựa trên SEM được sử dụng để đảm bảo phân tích lỗi chính xác.
Bạn đã sẵn sàng để tìm hiểu thêm về Calibre?
Chúng tôi sẵn sàng trả lời câu hỏi của bạn! Liên hệ với nhóm của chúng tôi ngay hôm nay
Gọi: 1-800-547-3000
Dịch vụ tư vấn Calibre
Chúng tôi giúp bạn áp dụng, triển khai, tùy chỉnh và tối ưu hóa môi trường thiết kế phức tạp của bạn. Tiếp cận trực tiếp vào kỹ thuật và phát triển sản phẩm cho phép chúng tôi khai thác chuyên môn sâu về lĩnh vực và chủ đề.
Trung tâm hỗ trợ
Trung tâm hỗ trợ Siemens cung cấp cho bạn mọi thứ ở một vị trí dễ sử dụng -
cơ sở kiến thức, cập nhật sản phẩm, tài liệu, trường hợp hỗ trợ, thông tin cấp phép/đơn đặt hàng và hơn thế nữa.
Thiết kế & Sản xuất vi mạch Calibre
Bộ công cụ Calibre cung cấp xác minh và tối ưu hóa IC chính xác, hiệu quả, toàn diện trên tất cả các nút quy trình và kiểu thiết kế đồng thời giảm thiểu việc sử dụng tài nguyên và lịch trình ghi hình.