Tessent Diagnosis
Використовуючи дані про відмови від виробничих випробувань, шаблонів випробувань сканування та інформацію про дизайн, Tessent Diagnosis визначає місце розташування та класифікацію дефекту, що спричиняє збій.
Чому саме «Тессент Діагноз»?
Рішення Tessent Diagnostic визначає тип і розташування дефектів, створюючи основу для діагностичного аналізу врожайності та відмов.
Точно визначити дефекти та помилки синхронізації
Використовуйте технологію з урахуванням макету та клітинної інформації, щоб визначити найбільш ймовірний механізм відмови дефекту, логічне розташування та фізичне місце розташування дефекту.
Діагностика з урахуванням клітин
Виконайте діагностику на рівні транзистора для виявлення дефектів всередині стандартних осередків. Ця можливість використовує ту саму модель несправності, що використовується для АТПГ, що відповідає клітинам, і працює з будь-яким типом шаблону.
Ланцюгова діагностика високої роздільної
Покращити діагностику на> 1,5 рази на розширених технологічних вузлах (5 нм і нижче). Забезпечує точну ізоляцію на рівні транзистора для виявлення дефектів ланцюга сканування. Забезпечує точність ізоляції глибоких точкових дефектів.
Співвідношення з аналізом DFM
Результати діагностики можна співвіднести з результатами аналізу DFM для виявлення критичних особливостей проектування. Tessent Diagnosis може читати бази даних результатів (RDB) з Calibre.
Довірена технологія
Tessent Diagnosis є лідером на ринку технологій діагностики сканування з найвищим рівнем точності. Більше 80% звітів, створених за допомогою Tessent Diagnosis, були підтверджені за допомогою процесу аналізу відмов.
Удосконалення ланцюгової діагностики за допомогою технологій Tessent
Джаянт Д'Соуза, старший менеджер з продуктів Tessent, розповідає про використання технології ланцюгової діагностики Tessent з високою роздільною здатністю для підвищення продуктивності, щоб задовольнити час виходу на ринок шляхом виявлення більш систематичних дефектів та покращення роздільної здатності до 80%.
