Tessent MemoryBist пропонує повне рішення для швидкісного тестування, діагностики, ремонту, налагодження та характеристики вбудованих пам'яті. Використовуючи гнучку ієрархічну архітектуру, вбудований самотестування та саморемонт можуть бути інтегровані як в окремі ядра, так і на верхньому рівні.
Tessent MemoryBist, провідний у галузі вбудований самотестування пам'яті, включає унікальний комплексний потік автоматизації, який забезпечує перевірку правил проектування, планування тестування, інтеграцію та перевірку на рівні RTL або шлюзу.
Tessent MemoryBist ECC підвищує надійність, покращує якість випробувань та захищає від дефектів старіння. Його настроювані критерії проходження/відмови дозволяють оптимально поєднувати резервування пам'яті та коду виправлення помилок.
Tessent MemoryBist NVM забезпечує гнучке тестування та ремонт, знижує витрати на виготовлення випробувань та підвищує надійність. Автоматизовані алгоритми, специфічні для NVM, забезпечують спеціалізовані режими доступу та працюють з опцією ECC. Доступно. початок 26
Розширений BAP забезпечує настроюваний інтерфейс для оптимізації внутрішньосистемного тестування. Він також підтримує протокол з низькою затримкою для налаштування контролера BIST пам'яті, виконання тестів Go/NoGo та моніторингу стану проходження/відмови.
Алгоритми тестування пам'яті можуть бути жорстко закодовані в контролер Tessent MemoryBist, а потім застосувати до кожної пам'яті за допомогою керування часом виконання. Це дозволяє вибирати коротші алгоритми тестування в міру дозрівання виробничого процесу.
Варіант ремонту Tessent MemoryBist усуває складності та витрати, пов'язані з зовнішніми ремонтними потоками. Він тестує та назавжди відновлює всі дефектні пам'яті в чіпі, практично не використовуючи зовнішніх ресурсів.
Дивіться, як Етьєн Расін, менеджер з продуктів Tessent, розповідає про те, як Tessent MemoryBist може допомогти максимізувати якість тестування, мінімізувати час тестування, покращити продуктивність та відновити пам'ять завдяки своїй гнучкій архітектурі.
Дізнайтеся, як використання програмного забезпечення Tessent дозволяє вам узгоджуватися з новими стандартами та нормативними актами, пропонуючи повний комплексний набір рішень для задоволення вимог сучасних розробок автомобільних мікросхем.
У цій статті описані переваги використання архітектури спільної шини для тестування та відновлення пам'яті в ядрах iPS та представлена автоматизація, доступна в Tessent MemoryBist.
У цьому прикладі описується, як ON Semiconductor використовував ієрархічний потік Tessent MemoryBist для зменшення часу вставки BIST пам'яті на 6 разів.
