Чому саме «Тессент ЛогікБіст»?
Tessent LogicBist ефективно інтегрується з Tessent MissionMode та Tessent TestKompress для створення комплексного рішення для тестування системи та виробництва для критично важливих для безпеки пристроїв.
Покращує охоплення тесту
Розроблена для гібридних застосувань TK/LBIST, технологія тестових точок Tessent VersaPoint одночасно покращує кількість шаблонів ATPG та логічну тестуваність BIST, покращуючи покриття LBIST на 2% -4%.
Відповідає часу тестування в системі
Спостерігаючи за даними схеми в кожному циклі зміни, не тільки при захопленні, технологія сканування спостереження (OST) значно зменшує кількість шаблонів, необхідних для досягнення цільового логічного охоплення тесту BIST.
Підвищує ефективність тестування
Tessent Hybrid TK/LBIST ефективно поєднує логічну архітектуру Tessent TestKompress та LogicBist для покращення якості тесту, уникаючи будь-яких штрафів за площу, пожинаючи переваги як стиснення ATPG, так і логічного BIST.
Infineon скорочує час тестування LBIST для функціональної безпеки
У цій презентації Даніель Тілль з Infineon показує використання LogicBist з технологією сканування спостереження, яка, як доведено, різко скорочує час тестування вбудованого логічного самотестування (LBIST) для мікроконтролерів Infineon Automotive (MCU).
