Необхідні постійні випробування та моніторинг пристроїв, щоб гарантувати оптимальну продуктивність, надійність та безпеку протягом усієї їх експлуатації. Tessent In-System Test дозволяє застосовувати високоякісні детерміновані шаблони тестування для тестування в системні/польових умовах протягом життєвого циклу вашого чіпа.
Tessent In-System Test забезпечує вбудоване обладнання та необхідне програмне забезпечення для застосування високоякісних детермінованих шаблонів тестування, скорочуючи час тестування порівняно з традиційною логікою BIST.
Внутрішньосистемний детермінований тест дозволяє змінювати шаблони тестування у міру появи нових дефектів та моделей помилок або зміни потреб вмісту тесту.
Вбудований контролер тестування отримує дані з інтерфейсів шини, керуючи мережевою шиною потокового сканування внутрішньо, щоб застосувати пакети даних сканування до ядер для тестування, зменшуючи час тестування та покращуючи профіль потужності під час тестування.
Повторно використовує існуючу інфраструктуру тестування на чіпі для націлювання на приховані, періодичні, випадкові або вікові дефекти протягом терміну служби продукту, дозволяючи повторне використання шаблонів на основі IJTAG та SSN для внутрішньосистемних додатків.
Забезпечує повністю автоматизовані апаратні та програмні можливості, необхідні для реагування на старіння та фактори навколишнього середовища, які проявляються як безшумні помилки/пошкодження даних. Зміст тесту можна змінювати в міру розвитку вимог до тесту.
Запущений на ITC 2024, Tessent In-System Test (IST) доповнює Tessent Streaming Scan Network (SSN) та покращує її здатність використовуватися в внутрішньосистемному середовищі, таким чином розширюючи передові технології, що забезпечує Tessent SSN. Дизайнери можуть застосовувати вбудовані детерміновані тести (EDT), створені за допомогою програмного забезпечення Tessent SSN через шину SSN безпосередньо за допомогою внутрішнього контролера тестування.
Tessent In-System Test інтегрує внутрішньосистемний детермінований тест (IS-EDT) з мережею потокового сканування Tessent, щоб дозволити користувачам запускати детерміновані шаблони в системі. Хоча попит на моделі IS-EDT є критичним у автомобільній промисловості, ця технологія також приносить користь центрам обробки даних та мережевим дизайнам. У цій роботі описано, як Tessent In-System Test відповідає потребам у системному та польовому тестуванні.
Дізнайтеся, як використання програмного забезпечення Tessent дозволяє вам узгоджуватися з новими стандартами та нормативними актами, пропонуючи повний комплексний набір рішень для задоволення вимог сучасних розробок автомобільних мікросхем.
Дізнайтеся більше про зростаючу роль інновацій дизайну інтегральних схем (IC) у цифровій трансформації в цій білій книзі.
