Аналогове тестування вимагає тривалого часу тестування на дорогих тестерах змішаного сигналу. Tessent AnalogTest генерує схеми DFT з мінімальним впливом та цифрові шаблони тестування для тестування блоку аналогових схем за <1 мс на цифрових тестерах.

Tessent AnalogTest перетворює аналоговий DFT та розробку тестів у швидкий, автоматизований процес. Структурні та специфікаційні тести перевіряються в моделюванні перед запуском на ATE або в системі, скорочуючи час налагодження.

Специфікаційне тестування аналогових схем може мати нижче охоплення випробувань, щоб мінімізувати втрати виходу. DFT та ATPG на основі цифрового сканування можуть забезпечити імітовані шаблони тестування, які досягають більш високого покриття дефектів без збільшення втрати врожайності.