Тестові рішення Tessent

Tessent AnalogTest скорочує розробку та перевірку зразків аналогових випробувань від інженерних місяців до інженерних годин. Це найефективніший спосіб максимізувати покриття дефектів при зниженні вартості випробувань.

Tessent In-System Test забезпечує вбудоване обладнання та необхідне програмне забезпечення для застосування високоякісних детермінованих шаблонів тестування, скорочуючи час тестування порівняно з традиційною логікою BIST.

Забезпечте детермінований сканувальний тест найвищої якості з найнижчими витратами на виробничі випробування, використовуючи запатентоване стиснення на чіпі для зменшення обсягу тестових даних та скорочення часу тестування.

Автоматизуйте генерацію та вставку обладнання, сумісного з IEEE 1838, та визначте архітектуру тестового доступу IEEE для 3D-складених інтегральних схем.

Скоротіть час розробки DFT та витрати на тестування виробництва, роз'єднавши вимоги DFT на рівні ядра та чіпа за допомогою Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Увімкніть комплексну автоматизацію та інтеграцію тестування, відновлення, налагодження та характеристики вбудованих пам'яток за допомогою Tessent MemoryBist.

Забезпечте відповідність ISO 26262 за допомогою ідеального логічного вбудованого рішення для самотестування для критично важливих для безпеки пристроїв, таких як мікросхеми, що використовуються в автомобільних та медичних додатках.

Поєднуйте автоматизацію та IP на мікросхемі, щоб забезпечити тестування та діагностику мікросхеми в будь-який момент функціональної роботи автомобіля - основна вимога стандарту ISO 26262.

Скоротіть зусилля з впровадження DFT за допомогою оптимальної автоматизації потоку Tessent Platform для ієрархічного DFT.

Підвищення рівня стиснення тестів до 4х разів, увімкніть ієрархічну DFT, логічну готовність BIST та вставку сканування за допомогою Tessent ScanPro.

Упорядкуйте широкий спектр критичних завдань DFT за допомогою цього нового програмного забезпечення, розробленого для команд проектування мікросхем.

Спростіть процес створення компактних тестових наборів з високим покриттям. Можливість застосування Tessent FastScan до більшості будь-якого типу конструкції робить його найбільш універсальним доступним рішенням ATPG.

Забезпечте автоматизацію та інтеграцію для тестування та приладобудування, сумісного з IEEE 1687 IJTAG, з різних джерел у конструкцію ІС.

Автоматизуйте додавання стандартної підтримки сканування кордонів IEEE 1149.1 до мікросхем будь-якого розміру або складності, скорочуючи зусилля з розробки та покращуючи час виходу на ринок.

Імітуйте дефекти на рівні транзистора для аналогових, змішаних сигнальних та несканованих цифрових схем, автоматизуючи оцінку покриття, щоб допомогти відповідати стандартам якості, таким як ISO 26262.