Вироби Tessent

Tessent AnalogTest скорочує розробку та перевірку зразків аналогових випробувань від інженерних місяців до інженерних годин. Це найефективніший спосіб максимізувати покриття дефектів при зниженні вартості випробувань.

Tessent In-System Test забезпечує вбудоване обладнання та необхідне програмне забезпечення для застосування високоякісних детермінованих шаблонів тестування, скорочуючи час тестування порівняно з традиційною логікою BIST.

Забезпечте детермінований сканувальний тест найвищої якості з найнижчими витратами на виробничі випробування, використовуючи запатентоване стиснення на чіпі для зменшення обсягу тестових даних та скорочення часу тестування.

Автоматизуйте генерацію та вставку обладнання, сумісного з IEEE 1838, та визначте архітектуру тестового доступу IEEE для 3D-складених інтегральних схем.

Скоротіть час розробки DFT та витрати на тестування виробництва, роз'єднавши вимоги DFT на рівні ядра та чіпа за допомогою Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Увімкніть комплексну автоматизацію та інтеграцію тестування, відновлення, налагодження та характеристики вбудованих пам'яток за допомогою Tessent MemoryBist.

Забезпечте відповідність ISO 26262 за допомогою ідеального логічного вбудованого рішення для самотестування для критично важливих для безпеки пристроїв, таких як мікросхеми, що використовуються в автомобільних та медичних додатках.

Поєднуйте автоматизацію та IP на мікросхемі, щоб забезпечити тестування та діагностику мікросхеми в будь-який момент функціональної роботи автомобіля - основна вимога стандарту ISO 26262.

Скоротіть зусилля з впровадження DFT за допомогою оптимальної автоматизації потоку Tessent Platform для ієрархічного DFT.

Підвищення рівня стиснення тестів до 4х разів, увімкніть ієрархічну DFT, логічну готовність BIST та вставку сканування за допомогою Tessent ScanPro.

Упорядкуйте широкий спектр критичних завдань DFT за допомогою цього нового програмного забезпечення, розробленого для команд проектування мікросхем.

Спростіть процес створення компактних тестових наборів з високим покриттям. Можливість застосування Tessent FastScan до більшості будь-якого типу конструкції робить його найбільш універсальним доступним рішенням ATPG.

Забезпечте автоматизацію та інтеграцію для тестування та приладобудування, сумісного з IEEE 1687 IJTAG, з різних джерел у конструкцію ІС.

Автоматизуйте додавання стандартної підтримки сканування кордонів IEEE 1149.1 до мікросхем будь-якого розміру або складності, скорочуючи зусилля з розробки та покращуючи час виходу на ринок.

Імітуйте дефекти на рівні транзистора для аналогових, змішаних сигнальних та несканованих цифрових схем, автоматизуючи оцінку покриття, щоб допомогти відповідати стандартам якості, таким як ISO 26262.

Tessent IJTAG Pro різко знижує витрати на тестування, прискорюючи завантаження/розвантаження шаблонів IJTAG, що має вирішальне значення для чіплетів, конструкцій 2.5/3DIC та застосовується до інших тестових додатків через Tessent SSN. Це підсилює IJTAG.

Застосовуйте технології діагностики з урахуванням макету та клітинної діагностики, щоб точно класифікувати та визначити місце дефектів, що спричиняють збої під час виробничих випробувань.

Прискорити тестування, налагодження та характеристику кремнію пристроїв, що містять тестові структури Tessent ATPG, EDT, BIST та/або IJTAG в автоматизованому інтерактивному середовищі.

Усуньте шум з даних діагностики, щоб визначити основні причини, визначити систематичні обмежувачі продуктивності та вибрати найкращі пристрої для аналізу відмов.

Наскрізне рішення для налагодження та відстеження RISC-V, що складається з вбудованого IP та програмного забезпечення, розробленого для забезпечення всебічних, ефективних можливостей налагодження та відстеження.

Комплексне функціональне рішення моніторингу для видимості складної поведінки SoC, що включає настроювані IP-адреси, C++/Python APIs та інструмент генерації підсистем, який може прискорити налагодження, перевірку та оптимізацію складних SoC

Дозвольте прикладному програмному забезпеченню, що працює на SoC, ефективно контролювати операції. Дозвольте послідовно вдосконалювати та оптимізувати продукти на основі даних, зібраних у реальному житті, а не лише в лабораторії.

Забезпечте найвищу якість випробувань виробництва за допомогою рішень Tessent. Максимізуйте кількість виявлених фізичних дефектів у вашому тестовому рішенні з нульовим дефектом.

Зменшіть ризик та відповідайте необхідним стандартам безпеки за допомогою комплексних рішень для тестування системи та оцінки несправностей, гарантуючи, що ваш продукт повністю відповідає вимогам критично важливих для безпеки застосувань, для яких він розроблений.

Впроваджуйте комплексне рішення безпеки для вашого продукту IC, адресуючи автентифікацію, зв'язок, захист та управління життєвим циклом пристроїв у межах тестування, функціональної роботи та безпеки на системному рівні.

Діагностуйте та аналізуйте дані про відмови та врожайність щодо окремих повернень клієнтів або даних про обсяги виробництва. Отримайте цінний відгук про дизайн та процес, щоб підвищити надійність майбутніх процесів та конструкцій.