Використовуйте кілька платформ від проектування до виробництва
Рішення Calibre Deficit Management виконують групування дефектів на основі відповідності шаблонів та використовують DRC/LVS для атрибутів дизайну на основі розташування дефектів та аналізу чистої критичності. Безшовна інтеграція з інструментами проектування полегшує прямий зв'язок між фізичним дизайном та перевіркою дефектів.
Перехресний зонд для аналізу конструкції
Графічний інтерфейс керування дефектами Calibre інтегрує різні функції аналізу дизайну Calibre та надає різні функції керованого аналізу дизайну на основі дефектів, щоб користувачі могли легко визначити та виправити першопричину дефектів.
Вибір вниз від перевірки BFI до аналізу SEM
Calibre Ddefect Management забезпечує додатки вибірки за допомогою інтеграції з методами Calibre SONR, методологією ранжування та прогнозування, заснованої на машинному навчанні, для покращення частоти попадання дефектів та висвітлення систематичних шаблонів з обмеженим бюджетом вибірки для перегляду SEM.
Аналіз дефектів на основі зображень SEM
Можливість обробки зображень SEM Calibre Ddefect Management забезпечує точне закріплення між місцем дефекту на масці/пластині та місцем дефекту на макеті. Для забезпечення точного аналізу дефектів використовуються такі методи, як вирівнювання SEM-до макета, вилучення контуру та автоматична класифікація дефектів на основі SEM.
Готові дізнатися більше про Calibre?
Ми готові відповісти на ваші запитання! Зв'яжіться з нашою командою вже сьогодні
Телефонуйте: 1-800-547-3000
Консультаційні послуги Calibre
Ми допомагаємо вам прийняти, розгорнути, налаштувати та оптимізувати складні середовища проектування. Прямий доступ до інженерії та розробки продуктів дозволяє нам скористатися глибокими доменними та предметними знаннями.
Центр підтримки
Центр підтримки Siemens надає вам все в одному зручному місці -
база знань, оновлення продуктів, документація, справи підтримки, інформація про ліцензії/замовлення тощо.
Дизайн та виготовлення мікросхем Calibre
Набір інструментів Calibre забезпечує точну, ефективну та всебічну перевірку та оптимізацію мікросхем для всіх вузлів процесів та стилів проектування, мінімізуючи використання ресурсів та графіки стрічок.