Skip to main content
Bu sayfa, otomatik çeviri yardımıyla görüntülenmektedir. İngilizce olarak görüntülenmesini ister misiniz?

Neden Tessent Yieldinsight?

Tessent Yieldinsight, özel veri madenciliği ve istatistiksel analiz tekniklerini kullanarak, temel temel nedenleri belirlemek, sistematik verim sınırlayıcıları belirlemek ve arıza analizi için en iyi cihazları seçmek için teşhis verilerindeki gürültüyü ortadan kaldırır.

Gizli verim sınırlayıcılarını tanımlayın

Tessent Yieldinsight, sistematik verim kaybının nedenini tanımlar ve arıza analizi için kalıp seçme süreci boyunca rehberlik sağlar.

Teşhis sonuçlarından gürültüyü kaldırın

Kök neden dekonvolüsyonu (RCD) teknolojisi, tanı sonuçlarındaki gürültüyü ortadan kaldırır ve altta yatan temel nedenleri belirler. Başarısız kalıp popülasyonlarını seçer ve filtreler, benzer nedenlerle başarısız olan kalıpları gruplandırır.

Tessent Diagnosis ile çalışır

Herhangi bir arıza analizi yapılmadan önce sistematik verim sınırlayıcıları belirlemek ve ayırmak için Tessent Diagnosis'in yerleşim farkında ve hücre farkında tanı sonuçlarını analiz ederek maliyetli fiziksel lokalizasyon ihtiyacını ortadan kaldırır.

Web semineri

Yeni Bir Geri Dönüşümlü Tarama Zinciri Teknolojisi

ASM International tarafından düzenlenen Siemens EDA ve Qualcomm arasındaki bu ortak web semineri şunları öne çıkarıyor:

  • Verim rampasında zincir teşhisini kullanma motivasyonu
  • Zincir teşhisine genel bakış, tersinir zincir
  • Ters çevrilebilir zincir teknolojisi ve teşhis
  • Geri dönüşümlü zincirlerin uygulanması
  • Test çipinden silikon sonuçları
 Mavi arka plana sahip bir devre kartında bir işlemci çipinin yakın çekimi.

Daha fazla bilgi edinin