Neden Tessent LogicBist?
Tessent LogicBist, güvenlik açısından kritik cihazlar için eksiksiz bir sistem içi ve üretim test çözümü oluşturmak için Tessent MissionMode ve Tessent TestKompress ile verimli bir şekilde entegre olur.
Test kapsamını iyileştirir
Hibrit TK/LBIST uygulamaları için tasarlanan Tessent VersaPoint test noktası teknolojisi, ATPG desen sayısını ve mantık BIST test edilebilirliğini aynı anda iyileştirir ve LBIST kapsamını %2-4 artırır.
Sistem içi test süresini karşılar
Gözlem Tarama Teknolojisi (OST) her vardiya döngüsünde devre verilerini gözlemleyerek, yalnızca yakalamada değil, hedef mantık BIST test kapsamına ulaşmak için gereken desen sayısını önemli ölçüde azaltır.
Test verimliliğini artırır
Tessent Hybrid TK/LBIST, Tessent TestKompress ve LogicBist'in mantık mimarisini verimli bir şekilde birleştirir ve test kalitesini iyileştirirken, hem ATPG sıkıştırma hem de mantık BIST avantajlarından yararlanarak herhangi bir alan cezasını önler.
Infineon, LBIST test süresini fonksiyonel emniyete indirir
Bu sunumda Infineon'dan Daniel Tille, Infineon Otomotiv mikrodenetleyicileri (MCU'lar) için mantık yerleşik otomatik test (LBIST) test süresini büyük ölçüde azalttığı kanıtlanmış Gözlem Tarama Teknolojisine sahip LogicBist'in kullanımını gösteriyor.
