Tessent DefectSim analog, karışık sinyal (AMS) ve taramayan dijital devreler için transistör düzeyinde bir arıza simülatörüdür. Hata kapsamını ve kusur toleransını ölçer ve hem yüksek hacimli hem de yüksek güvenilirlikli IC'ler için mükemmeldir.
AMS Güvenliğini, Test Kalitesini ve Zamanını Geliştirin. Tessent DefectSim AMS devrelerinde manuel test kapsamı değerlendirmesinin yerini alır ve kalite ve fonksiyonel güvenlik standartlarını ve test kapsama hedeflerini karşılamak için gereken iyileştirmeleri yönlendirmek için objektif veriler üretir.
abilir dijital devreler için TestKompress Cell-Aware ATPG'de kullanılan transistör düzeyinde kusur-enjeksiyon teknikleri üzerine inşa edilen DefectSIM, yüzlerce veya binlerce transistör içeren endüstriyel devre blokları için uygundur.
Olasılık ağırlıklı kusur kapsamını, güven aralığını ve her bir kusuru ve başarısız bir test limiti veya dijital çıktı tarafından tespit edilip edilmediğini listeleyen bir yönetici özeti oluşturun.
klasik SPICE'de üretim testlerini ve düz ayıklanmış düzen netlistlerini simüle etmeye kıyasla toplam simülasyon süresini önemli ölçüde azaltın.
Değerlendirdik Tessent DefectSim birkaç otomotiv IC'sinde ve test için tasarım tekniklerindeki iyileştirmelere rehberlik eden ve analog testlerin kusur kapsamını ölçülebilir şekilde iyileştirmemize izin veren son derece otomatik ve esnek bir çözüm olduğu sonucuna vardı.
Otomotiv fonksiyonel güvenliğinin analog arıza simülasyonunun rolünü araştırın ve analog hata simülasyonunun çip tasarımı ve güvenlik standartlarına uygunluk üzerindeki zorluklarını, uygulamalarını, faydalarını ve etkisini keşfedin.
