Tessent Test Çözümleri

Tessent AnalogTest analog test modeli geliştirme ve doğrulamayı mühendislik aylarından mühendislik saatlerine düşürür. Test maliyetini düşürürken kusur kapsamını en üst düzeye çıkarmanın en etkili yoludur.

Tessent In-System Test Geleneksel mantık BIST ile karşılaştırıldığında test süresini kısaltırken yüksek kaliteli deterministik test modellerinin uygulanmasını sağlamak için gömülü donanım ve gerekli yazılımı sağlar.

veri hacmini azaltmak ve test süresini azaltmak için patentli çip üzerinde sıkıştırma kullanarak en düşük üretim testi maliyeti ile en yüksek kalitede deterministik tarama testini sunun.

IEEE 1838 uyumlu donanımın oluşturulmasını ve eklenmesini otomatikleştirin ve 3D yığılmış entegre devreler için IEEE test erişim mimarisini tanımlayın.

ve yonga düzeyinde DFT gereksinimlerini birbirinden ayırarak DFT geliştirme süresini ve üretim testi maliyetini azaltın Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Gömülü belleklerin test, onarım, hata ayıklama ve karakterizasyonunun kapsamlı otomasyonunu ve entegrasyonunu sağlayın Tessent MemoryBIST.

Otomotiv ve tıbbi uygulamalarda kullanılan IC'ler gibi güvenlik açısından kritik cihazlar için ideal mantıklı yerleşik otomatik test çözümüyle ISO 26262 uyumluluğunu sağlayın.

Otomasyon ve çip üstü IP'yi birleştirerek aracın işlevsel çalışması sırasında herhangi bir noktada IC testi ve teşhisini mümkün kılar - ISO 26262 standardının temel şartlarından biridir.

otomasyon ile DFT uygulama çabasını azaltın Tessent Platform hiyerarşik DFT için akış.

Test sıkıştırma seviyelerini 4X'e kadar iyileştirin, hiyerarşik DFT, mantıksal BIST hazırlığı ve tarama ekleme özelliğini etkinleştirin Tessent ScanPro.

IC tasarım ekipleri için geliştirilen bu yeni yazılımla çok çeşitli kritik DFT görevlerini kolaylaştırın.

Yüksek kapsama alanı kompakt test setleri oluşturma sürecini basitleştirin. yeteneği Tessent FastScan Her türlü tasarıma uygulanması, onu mevcut en çok yönlü ATPG çözümü haline getirir.

IEEE 1687 IJTAG uyumlu test ve enstrümantasyon IP'si için çeşitli kaynaklardan bir IC tasarımına otomasyon ve entegrasyon sağlayın.

Her boyutta veya karmaşıklıktaki IC'lere IEEE 1149.1 standart sınır tarama desteğinin eklenmesini otomatikleştirerek geliştirme çabasını azaltın ve pazara sunma süresini artırın.

Analog, karışık sinyal ve taramayan dijital devreler için transistör düzeyindeki kusurları simüle ederek ISO 26262 gibi kalite standartlarının karşılanmasına yardımcı olmak için kapsama değerlendirmesini otomatikleştirin.