Tessent ürünleri

Tessent AnalogTest, analog test modeli geliştirme ve doğrulamayı mühendislik aylarından mühendislik saatlerine düşürür. Test maliyetini düşürürken kusur kapsamını en üst düzeye çıkarmanın en etkili yoludur.

Tessent In-System Test, geleneksel mantık BIST ile karşılaştırıldığında test süresini kısaltırken yüksek kaliteli deterministik test modellerinin uygulanmasını sağlamak için gömülü donanım ve gerekli yazılımı sağlar.

Test veri hacmini azaltmak ve test süresini azaltmak için patentli çip üzerinde sıkıştırma kullanarak en düşük üretim testi maliyeti ile en yüksek kalitede deterministik tarama testini sunun.

IEEE 1838 uyumlu donanımın oluşturulmasını ve eklenmesini otomatikleştirin ve 3D yığılmış entegre devreler için IEEE test erişim mimarisini tanımlayın.

Tessent Streaming Scan Network (SSN) ile çekirdek düzeyinde ve yonga düzeyindeki DFT gereksinimlerini birbirinden ayırarak DFT geliştirme süresini ve üretim testi maliyetini azaltın.

Tessent MemoryBist ile gömülü belleklerin test, onarım, hata ayıklama ve karakterizasyonunun kapsamlı otomasyonunu ve entegrasyonunu sağlayın.

Otomotiv ve tıbbi uygulamalarda kullanılan IC'ler gibi güvenlik açısından kritik cihazlar için ideal mantıklı yerleşik otomatik test çözümüyle ISO 26262 uyumluluğunu sağlayın.

Otomasyon ve çip üstü IP'yi birleştirerek aracın işlevsel çalışması sırasında herhangi bir noktada IC testi ve teşhisini mümkün kılar - ISO 26262 standardının temel şartlarından biridir.

Hiyerarşik DFT için Tessent Platform akışının optimum otomasyonu ile DFT uygulama çabasını azaltın.

Tessent ScanPro ile test sıkıştırma seviyelerini 4X'e kadar iyileştirin, hiyerarşik DFT, mantıksal BIST hazırlığı ve tarama eklemeyi etkinleştirin.

IC tasarım ekipleri için geliştirilen bu yeni yazılımla çok çeşitli kritik DFT görevlerini kolaylaştırın.

Yüksek kapsama alanı kompakt test setleri oluşturma sürecini basitleştirin. Tessent FastScan'in her türlü tasarıma uygulanabilmesi, onu mevcut en çok yönlü ATPG çözümü haline getirir.

IEEE 1687 IJTAG uyumlu test ve enstrümantasyon IP'si için çeşitli kaynaklardan bir IC tasarımına otomasyon ve entegrasyon sağlayın.

Her boyutta veya karmaşıklıktaki IC'lere IEEE 1149.1 standart sınır tarama desteğinin eklenmesini otomatikleştirerek geliştirme çabasını azaltın ve pazara sunma süresini artırın.

Analog, karışık sinyal ve taramayan dijital devreler için transistör düzeyindeki kusurları simüle ederek ISO 26262 gibi kalite standartlarının karşılanmasına yardımcı olmak için kapsama değerlendirmesini otomatikleştirin.

Tessent IJTAG Pro, çipler, 2.5/3DIC tasarımları için çok önemli olan ve Tessent SSN aracılığıyla diğer test uygulamalarına uygulanabilen IJTAG desen yükleme/boşaltmayı hızlandırarak test maliyetlerini büyük ölçüde azaltır. IJTAG'ı geliştirir.

Üretim testleri sırasında arızalara neden olan kusurların yerini doğru bir şekilde sınıflandırmak ve belirlemek için düzene duyarlı ve hücreye duyarlı teşhis teknolojilerini uygulayın.

Otomatik etkileşimli bir ortamda Tessent ATPG, EDT, BIST ve/veya IJTAG test yapılarını içeren cihazların test başlatılmasını, hata ayıklamasını ve silikon karakterizasyonunu hızlandırın.

Altta yatan temel nedenleri belirlemek, sistematik verim sınırlayıcıları belirlemek ve arıza analizi için en iyi cihazları seçmek için teşhis verilerindeki gürültüyü ortadan kaldırın.

Kapsamlı, verimli hata ayıklama ve izleme yetenekleri sağlamak için tasarlanmış gömülü IP ve yazılımlardan oluşan uçtan uca RISC-V hata ayıklama ve izleme çözümü.

Yapılandırılabilir IP'ler, C++/Python API'leri ve karmaşık SoC'lerin hata ayıklama, doğrulama ve optimizasyonunu hızlandırabilen bir alt sistem oluşturma aracından oluşan karmaşık SoC davranışının görünürlüğü için kapsamlı işlevsel izleme çözümü

Bir SoC üzerinde çalışan uygulama yazılımının işlemleri etkili bir şekilde izlemesine izin verin. Ürünlerin sadece laboratuvarda değil, gerçek hayattaki kullanımda toplanan verilere dayanarak art arda rafine edilmesine ve optimize edilmesine izin verin.

Tessent çözümleri ile en yüksek üretim test kalitesini sağlayın. Sıfır kusur test çözümünüzde tespit edilen fiziksel kusurların sayısını en üst düzeye çıkarın.

Kapsamlı sistem içi test ve hata derecelendirme çözümleriyle riski azaltın ve gerekli güvenlik standartlarını karşılayın, ürününüzün tasarlandığı güvenlik açısından kritik uygulamalar için tam uyumlu olmasını sağlayın.

Test, işlevsel işletim ve sistem düzeyinde güvenlik genelinde kimlik doğrulama, iletişim, koruma ve cihaz yaşam döngüsü yönetimini ele alan IC ürününüz için kapsamlı bir güvenlik çözümü uygulayın.

Bireysel müşteri iadeleri veya hacimli üretim verileriyle ilgili arıza ve verim verilerini teşhis edin ve analiz edin. Gelecekteki süreçlerin ve tasarımların güvenilirliğini artırmak için değerli tasarım ve süreç geri bildirimleri alın.