Çoklu tasarımdan üretime kadar platformdan yararlanın
Calibre Fault Management çözümleri, desen eşleştirme tabanlı kusur gruplama gerçekleştirir ve hatalı konum tabanlı tasarım nitelikleri ve net kritiklik analizi için DRC/LVS'den yararlanır. Tasarım araçlarıyla kesintisiz entegrasyon, fiziksel tasarım ve kusur denetimi arasındaki doğrudan bağlantıyı kolaylaştırır.
Tasarım analizine çapraz prob
Calibre Fault Management GUI, çeşitli Calibre tasarım analizi işlevlerini entegre eder ve farklı hata tabanlı tasarım kılavuzlu analiz özellikleri sağlar, böylece kullanıcılar kusurların temel nedenini kolayca tanımlayabilir ve düzeltebilir.
BFI incelemesinden SEM analizine kadar aşağı seçim
Calibre Fault Management, hata isabet oranını iyileştirmek ve SEM incelemesi için sınırlı örnekleme bütçesine sahip sistematik kalıpları vurgulamak için makine öğrenimi tabanlı bir sıralama ve tahmin metodolojisi olan Calibre SONR teknikleriyle entegre ederek aşağı örnekleme uygulamaları sağlar.
SEM görüntü tabanlı kusur analizi
Calibre Fault Management SEM görüntü işleme özelliği, maske/gofret üzerindeki kusur konumu ile düzen üzerindeki kusur konumu arasında doğru sabitleme sağlar. Doğru kusur analizini sağlamak için SEM'den düzene hizalama, kontur çıkarma ve SEM tabanlı otomatik kusur sınıflandırması gibi teknikler kullanılır.
Calibre hakkında daha fazla bilgi edinmeye hazır mısınız?
Sorularınızı cevaplamak için hazırız! Bugün ekibimizle iletişime geçin
Çağrı: 1-800-547-3000
Calibre danışmanlık hizmetleri
Karmaşık tasarım ortamlarınızı benimsemenize, dağıtmanıza, özelleştirmenize ve optimize etmenize yardımcı oluyoruz. Mühendislik ve ürün geliştirmeye doğrudan erişim, derin alan ve konu uzmanlığından yararlanmamızı sağlar.
Destek merkezi
Siemens Destek Merkezi, kullanımı kolay tek bir konumda her şeyi sağlar -
bilgi tabanı, ürün güncellemeleri, belgeler, destek vakaları, lisans/sipariş bilgileri ve daha fazlası.
Kalibre IC Tasarım ve İmalat
Calibre araç paketi, kaynak kullanımını ve bant çıkış programlarını en aza indirirken tüm süreç düğümleri ve tasarım stilleri arasında doğru, verimli, kapsamlı IC doğrulama ve optimizasyon sağlar.