
Calibre EUV
efektlerini hesaba katmak için anamorfik optikler ve maske 3D modelleme gibi yüksek NA'lı EUV'nin benzersiz zorluklarını ele alan kapsamlı destek.
Entegre devrelere (IC'ler) yönelik doyumsuz talep, daha küçük kritik boyutları artırmaya devam ediyor. Aşırı ultraviyole (EUV) dahil olmak üzere fotolitografi süreçleri, her zamankinden daha fazla karmaşıklık ve veri hacmi sunar. Hesaplamalı litografi çözümlerimiz, uygun maliyetli teknoloji etkinleştirmesini sağlar.
litografik zorluklar hem de gelişmiş süreç düğümleriyle ilişkili hesaplama karmaşıklığı, hesaplamalı litografi yazılımı ve donanımında gelişmiş yeteneklere ihtiyaç yaratır. Calibre çözümü sınıfının en iyisi doğruluk, hız ve sahip olma maliyeti sunar.

Derin submikron üretimi sağlamak için yoğun optik yakınlık ve proses düzeltmesi.
Bir tasarıma alt çözünürlük yardımcı özellikleri (SRAF) ekler.
Güçlü tam çip simülasyonu ve litografik analiz.

GUI, çok çeşitli uygulamaları başlatmak ve sonuçları görüntülemek için kullanılır.

Optik, direnç ve aşındırma modelleri için yüksek oranda ölçeklenebilir kalibrasyon motoru.
Hızlı, ters piksel tabanlı optik yakınlık düzeltmesi.
Aydınlatma kaynağının optimizasyonu için kullanımı kolay GUI.