Simcenter Micred Quality Tester ช่วยให้สามารถประเมินโครงสร้างความร้อนของแพ็คเกจเซมิคอนดักเตอร์เพื่อระบุข้อบกพร่องในการผลิต รวมถึงปัญหาการติดแม่พิมพ์

เชื่อมั่นในความแม่นยำ
ใช้การวัดความต้านทานความร้อนที่ถูกต้องร่วมกับอุปกรณ์ทดสอบอัตโนมัติการวัดการตอบสนองความร้อนที่แม่นยำต่อพัลส์กำลังสั้นช่วยให้การทดสอบเซมิคอนดักเตอร์ที่มีประสิทธิภาพสูง รวมถึงการตรวจสอบความต้านทานความร้อนแบบเชื่อมต่อกับเคสการวัดอุณหภูมิทางเชื่อมต่อผ่านทางไฟฟ้าโดยใช้เทคโนโลยี Simcenter Micred T3STER ในตัว

บรรลุมาตรฐานทองคำ
เนื่องจากตัวจัดการทดสอบ IC เลือกและวางอุปกรณ์สำหรับการทดสอบ อุปกรณ์แต่ละตัวจึงมีคุณสมบัติสำหรับการประสานอัตโนมัติเมื่อเทียบกับเส้นโค้งอิมพีแดนซ์ความร้อนมาตรฐานทองคำและแบนด์การแปรผันที่ตั้งไว้ล่วงหน้า