ส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์หรือแพ็คเกจ IC ประกอบด้วยองค์ประกอบต่าง ๆ ตั้งแต่ชิปไปจนถึงตัวยึดฐานTIM แผ่นเย็นและสภาพแวดล้อมโดยรอบในแต่ละอย่างอาจมีข้อบกพร่องจากการผลิตหรือการเสื่อมสภาพและความเสียหายอาจเกิดขึ้นในช่วงอายุการใช้งานของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ความไม่สมบูรณ์จึงนำไปสู่ความล้มเหลวของอุปกรณ์นำไปสู่ต้นทุนการรับประกันและการสูญเสียความปรารถนาของลูกค้า

การใช้ Simcenter Micred T3STER ช่วยให้คุณตรวจสอบความไม่สมบูรณ์ตำแหน่งความเสียหายและจุดอ่อนเหล่านั้นนอกจากนี้ ด้วย Simcenter Micred T3STER คุณสามารถระบุและแสดงภาพขั้นตอนความต้านทานความร้อนและความจุที่สอดคล้องกับแต่ละองค์ประกอบในเส้นทางการไหลของความร้อนจากจุดเชื่อมต่อถึงสภาพแวดล้อมสิ่งนี้จะช่วยให้คุณค้นหาจุดอ่อนที่คุณสามารถปรับปรุงการออกแบบได้ เช่น โดยการเปลี่ยนวัสดุหรือความหนาของแม่พิมพ์นอกจากนี้ยังสามารถช่วยคุณระบุปัญหาความร้อนที่อาจเกิดขึ้นเช่นการเสื่อมสภาพเส้นทางความร้อนหรือการเปลี่ยนแปลงใน
ความต้านทานความร้อนของส่วนประกอบเฉพาะการใช้ประโยชน์จาก Simcenter Micred T3STER ให้ “ลายนิ้วมือ” ที่แม่นยำของโครงสร้างภายในและพฤติกรรมความร้อนซึ่งมีความเข้าใจอย่างยิ่งเมื่อใช้การออกแบบหรือวัสดุใหม่

การได้รับค่าที่ถูกต้องสำหรับอุณหภูมิทางแยกและ RthJc, RthJp หรือ RthJA เป็นเรื่องยากตามแบบจำลองการจำลองความร้อนเท่านั้นSimcenter Micred T3STER ใช้วิธีการทดสอบทางไฟฟ้าที่สอดคล้องกับมาตรฐาน JEDEC 51แม้ว่าวิธีการทดสอบแบบอินฟราเรดหรือเทอร์โมคูเปิลอาจไม่ถูกต้องหรือติดตั้งได้ยากและวัดอุณหภูมิพื้นผิวเท่านั้น แต่การใช้ Simcenter Micred T3STER มีความแม่นยำสูงภายใน 1/100 ขององศาในขณะที่ให้ข้อมูลเชิงลึกอย่างเต็มที่เกี่ยวกับโครงสร้างภายในและเส้นทางการไหลของความร้อนจากทางแยกไปยังสภาพแวดล้อมนอกจากความแม่นยำแล้ว Simcenter Micred T3STER ยังต้องการการทดสอบเพียงครั้งเดียวเท่านั้นด้วยวิธีการตั้งค่าที่รวดเร็ว ง่าย และทำซ้ำได้คุณสามารถเร่งกระบวนการทดสอบอิเล็กทรอนิกส์ของคุณได้

ในการทดลองตรวจสอบอายุการใช้งานที่คาดการณ์ไว้ของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ผู้ผลิตจะทำการทดสอบการหมุนเวียนกำลังแบบแอคทีฟอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ที่ใช้การสลับและการเปลี่ยนแปลงของอุณหภูมิบ่อยครั้งในระยะเวลาสั้น ๆ มีแนวโน้มที่จะเกิดความล้มเหลวและความน่าเชื่อถือมากขึ้น

ตามธรรมเนียมแล้วส่วนประกอบจะถูกทดสอบจนกว่าจะล้มเหลวจากนั้นนำเข้าห้องปฏิบัติการเพื่อตรวจสอบสาเหตุและตำแหน่งของความล้มเหลวโดยใช้ตัวอย่างเช่นเทคนิคการมองเห็นหรือเอ็กซ์เรย์อย่างไรก็ตามวิธีการเหล่านี้ทำลายล้างหรือให้ภาพที่ไม่ถูกต้องและตีความยากนอกจากนี้คุณไม่สามารถแยกสาเหตุและผลของกลไกความล้มเหลวได้เสมอไปและเข้าใจว่าพวกมันโต้ตอบกันอย่างไร

ฮาร์ดแวร์และซอฟต์แวร์ Simcenter Micred Power Tester รวมวงจรพลังงานที่ใช้งานร่วมกับการตรวจสอบการย่อยสลายทางความร้อนและไฟฟ้ากระบวนการนี้เป็นไปโดยอัตโนมัติอย่างเต็มที่ทำให้ไม่จำเป็นต้องไปกลับไปห้องปฏิบัติการมันแยกกลไกความเสียหายอย่างชัดเจน (การแยกตัวการฉีกขาด ฯลฯ) และระบุว่าส่วนต่อประสานใดบ้าง (ตัวยึด ข้อต่อบัดกรี ฯลฯ) เป็นจุดอ่อนที่ต้องออกแบบใหม่นอกจากนี้ยังช่วยให้คุณออกแบบได้ดีขึ้นและประหยัดต้นทุนวัสดุในบางพื้นที่ในขณะที่รับประกันอายุการใช้งานที่คาดหวังของการออกแบบ

เมื่ออุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์เข้าสู่การผลิตจำนวนมากคุณต้องตรวจสอบให้แน่ใจว่าสิ่งที่หลุดออกจากสายการผลิตของคุณตรงตามข้อกำหนดการทดสอบความร้อนอัตโนมัติที่มีประสิทธิภาพสูงหรือการทดสอบปลายสาย (EoL) สามารถช่วยให้คุณค้นหาข้อบกพร่องในการผลิตก่อนที่ลูกค้าของคุณจะทำ และสามารถรับประกันคุณภาพการผลิตข้อบกพร่องเกือบศูนย์ได้

Simcenter Micred Quality Tester นำเสนอตัวเลือกความยืดหยุ่นและการปรับแต่งสูงเพื่อให้เหมาะกับความต้องการของคุณ ไม่ว่าจะเป็นเครื่องทดสอบปุ่มกดที่ดำเนินการโดยบุคลากร การทดสอบแพทช์โดยอัตโนมัติโดยตัวจัดการหุ่นยนต์ หรือแม้แต่การทดสอบ eOL ที่ทำงานโดยอัตโนมัติและรวมเข้ากับสายการผลิตการทดสอบ eOL สามารถช่วยให้คุณตรวจจับข้อผิดพลาดในการประกอบและแจ้งให้คุณทราบถึงการเปลี่ยนแปลงพารามิเตอร์การผลิตหรือวัสดุเพื่อให้ทีมของคุณสามารถตัดสินใจแบบไม่ต้องเดินทาง หรือจัดเรียงตัวอย่างที่ผลิตออกเป็นช่วงคุณภาพหรือถังขยะเนื่องจากอัตราการผลิตสูงการทดสอบ eOL จะต้องรวดเร็วอัตโนมัติเต็มรูปแบบและรวมเข้ากับสายการผลิต

ฮาร์ดแวร์และซอฟต์แวร์ Simcenter Micred Quality Tester เลือกและวางสินค้าที่ผลิตทั้งหมดจากสายการผลิต ใช้พัลส์กำลังสั้นเพื่อตรวจสอบความต้านทานความร้อนแบบเชื่อมต่อกับเคส และกำหนดคุณสมบัติแต่ละตัวอย่างลงในชุดถังคุณภาพที่กำหนดไว้ล่วงหน้าคุณสามารถผสานรวมเครื่องทดสอบคุณภาพ Simcenter Micred กับสายการผลิตที่มีอยู่หรืออาจเป็นประโยชน์สำหรับ NPI เมื่อคุณกำหนดและเพิ่มประสิทธิภาพพารามิเตอร์การผลิตระหว่าง
ต้นแบบและขั้นตอนการผลิตจำนวนมาก

การใช้ Simcenter Micred Quality Tester ช่วยให้ผู้ผลิตเซมิคอนดักเตอร์พลังงานแบบบรรจุภัณฑ์สามารถยกระดับแนวทางปฏิบัติในการประกันคุณภาพ โดยก้าวหน้าจากคุณภาพพื้นฐานสู่คุณภาพที่สม่ำเสมอซอฟต์แวร์ Simcenter Micred Quality Tester สามารถปรับแต่งได้เพื่อรองรับโปรโตคอลการสื่อสารต่างๆ รวมถึง SECS/GEM, OPC UA และ Modbus

แบบจำลองการจำลองความร้อนสามารถประเมินทางเลือกการออกแบบจำนวนมากได้อย่างรวดเร็วโดยไม่จำเป็นต้องสร้างต้นแบบ แต่จะมีประโยชน์ก็ต่อเมื่อผลลัพธ์ทำนายสิ่งที่เกิดขึ้นในโลกแห่งความเป็นจริงได้อย่างแม่นยำการปรับปรุงความแม่นยำของแบบจำลองความร้อนตามข้อมูลการวัดความร้อนจะช่วยเพิ่มความแม่นยำของผลการจำลองความร้อนของคุณ

Simcenter มีเครื่องมือทดสอบความร้อนและการจำลองเพื่อช่วยให้คุณเชื่อมโยงแบบจำลองความร้อนของอิเล็กทรอนิกส์ได้ง่ายขึ้นใช้เครื่องมือเช่น ซอฟต์แวร์Simcenter FLOEFD™ และ ซอฟต์แวร์Simcenter ฟลอเทอร์ม™ มีขั้นตอนการสอบเทียบอัตโนมัติตามข้อมูลที่วัดด้วย Simcenter Micredด้วยการผสมผสานเฉพาะของเครื่องมือ Simcenter คุณสามารถค้นหาการออกแบบชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์และแพ็คเกจที่ดีที่สุดได้อย่างแม่นยำและมีประสิทธิภาพ