Skip to main content
หน้านี้จะแสดงผลโดยใช้การแปลอัตโนมัติ ดูเป็นภาษาอังกฤษแทน?
มุมมองด้านข้างของชิปบนกระดานที่มีพื้นหลังสีน้ำเงิน
Tessent Advanced DFT

Tessent TestKompress

บรรลุการทดสอบการสแกนแบบฝังตัวที่มีคุณภาพสูงสุดด้วยต้นทุนการทดสอบการผลิตต่ำสุดโดยใช้ Tessent TestKompress.

ทำไม Tessent TestKompress?

Tessent TestKompressซึ่งเป็นเครื่องมือทดสอบการสแกนชั้นนำของอุตสาหกรรม ใช้เทคโนโลยี Embedded Deterministic Test เพื่อให้ได้คุณภาพการทดสอบในระดับสูงสุดในขณะที่บีบอัดรูปแบบการสแกนบ่อยครั้ง 100X ขึ้นไป

ความคุ้มครองข้อบกพร่องสูงสุด

TestKompress รองรับโมเดลข้อบกพร่องแบบดั้งเดิมทั้งหมดที่ใช้สำหรับการเปิดเผยข้อบกพร่องทั้งแบบคงที่และแบบไดนามิกการสนับสนุนสำหรับโมเดลความผิดพลาดที่ผู้ใช้กำหนดยังช่วยให้สามารถสร้างแบบจำลองและกำหนดเป้าหมายกลไกข้อบกพร่องแทบทุกชนิด

อัตโนมัติเต็มรูปแบบ

TestKompress นำเสนอระบบอัตโนมัติที่ครอบคลุม การเขียนสคริปต์ที่ใช้ TCL และความสามารถในการตรวจสอบตัวเองเพื่อเพิ่มปริมาณงานให้สูงสุดการสร้างรูปแบบการทดสอบอัตโนมัติ (ATPG) สามารถกระจายไปยังโปรเซสเซอร์หลายตัวได้

ลดเวลาทดสอบและจำนวนรูปแบบ

สร้างขึ้นบนเทคโนโลยี Embedded Deterministic Test (EDT) ที่จดสิทธิบัตร Tessent TestKompress ลดเวลาทดสอบและปริมาณรูปแบบได้หลายลำดับโดยไม่สูญเสียความครอบคลุมข้อบกพร่อง

ถามผู้เชี่ยวชาญ - ชายและหญิงที่ปรึกษาในสำนักงาน

พร้อมที่จะเรียนรู้เพิ่มเติมเกี่ยวกับ Tessent แล้วหรือยัง?

เรากำลังพร้อมตอบคำถามของคุณ

เรียนรู้เพิ่มเติม