เพิ่มประสิทธิภาพ
การเพิ่มประสิทธิภาพร่วมสำหรับพลังงาน ประสิทธิภาพ พื้นที่ ต้นทุน และความน่าเชื่อถือในซิลิคอน แพ็คเกจ อินเตอร์โพเซอร์ และ PCB

โซลูชันบรรจุภัณฑ์ IC แบบบูรณาการที่ครอบคลุมทุกอย่างตั้งแต่การวางแผนและการสร้างต้นแบบไปจนถึงการลงชื่อสำหรับเทคโนโลยีการรวมต่างๆ เช่น FCBGA, FOWLP, 2.5/3DIC และอื่น ๆโซลูชันบรรจุภัณฑ์ 3D IC ของเราช่วยให้คุณเอาชนะข้อ จำกัด ของการปรับขนาดเสาหินได้
อุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์ได้ก้าวหน้าอย่างมากในเทคโนโลยี ASIC ในช่วง 40 ปีที่ผ่านมา นำไปสู่ประสิทธิภาพที่ดีขึ้นแต่เมื่อกฎหมายของมัวร์ใกล้ขีด จำกัด การปรับขนาดอุปกรณ์ก็กลายเป็นเรื่องยากขึ้นขณะนี้อุปกรณ์ที่หดตัวใช้เวลานานขึ้น มีค่าใช้จ่ายมากขึ้น และนำเสนอความท้าทายในด้านเทคโนโลยี การออกแบบ การวิเคราะห์ และการผลิตดังนั้นเข้าสู่ 3D IC
3D IC เป็นกระบวนทัศน์การออกแบบใหม่ที่ขับเคลื่อนโดยผลตอบแทนที่ลดลงของการปรับขนาดเทคโนโลยี IC ซึ่งเป็นกฎหมายของมัวร์
ทางเลือกอื่น ได้แก่ การแบ่งแยกของ System-on-Chip (SOC) ออกเป็นฟังก์ชันย่อยหรือส่วนประกอบขนาดเล็กที่เรียกว่า “ชิปเลต” หรือ “ฮาร์ด IP” และการใช้แม่พิมพ์หลายตัวเพื่อเอาชนะข้อ จำกัด ที่กำหนดโดยขนาดของโครงข้าง
ทำได้โดยการนำส่วนประกอบหน่วยความจำเข้าใกล้หน่วยประมวลผลมากขึ้น ลดระยะทางและความหน่วงในการเข้าถึงข้อมูลส่วนประกอบยังสามารถวางซ้อนกันในแนวตั้งช่วยให้ระยะทางกายภาพระหว่างกันสั้นลง
มีข้อดีหลายประการของการรวมที่แตกต่างกันรวมถึงความสามารถในการผสมผสานโหนดกระบวนการและเทคโนโลยีที่แตกต่างกันตลอดจนความสามารถในการใช้ประโยชน์จากแพลตฟอร์มประกอบ 2.5D/3D
โซลูชันการออกแบบ 3D IC ของเราสนับสนุนการวางแผน/วิเคราะห์ทางสถาปัตยกรรม การวางแผน/ตรวจสอบการออกแบบทางกายภาพ การวิเคราะห์ทางไฟฟ้าและความน่าเชื่อถือ และการสนับสนุนการทดสอบ/วินิจฉัยผ่านการส่งมอบการผลิต

ระบบเต็มรูปแบบสำหรับการวางแผนระบบที่แตกต่างกัน นำเสนอการเขียนเชิงตรรกะที่ยืดหยุ่นสำหรับการเชื่อมต่อที่ราบรื่นตั้งแต่การวางแผนไปจนถึงระบบ LVS ขั้นสุดท้ายฟังก์ชันการวางแผนพื้นรองรับการปรับขนาดการออกแบบที่แตกต่างกันที่ซับซ้อน

บรรลุเวลาวงจรการออกแบบที่เร็วขึ้นและเส้นทางสู่การเทปออกด้วยความสามารถในการออกแบบและการปิด PPA ในระหว่างการเพิ่มประสิทธิภาพตำแหน่งการเพิ่มประสิทธิภาพในลำดับชั้นช่วยให้มั่นใจได้ถึงการปิดเวลาระดับสูงสุดข้อกำหนดการออกแบบที่ได้รับการปรับให้เหมาะสมให้ PPA ที่ดีขึ้นซึ่งได้รับการรับรองสำหรับโหนดขั้นสูง TSMC

แพลตฟอร์มเดียวรองรับการออกแบบพื้นผิว SIP, ชิปเลต, ซิลิคอนอินเตอร์โพเซอร์, อินเตอร์โพเซอร์อินทรีย์และแก้วขั้นสูง ซึ่งช่วยลดเวลาในการออกแบบด้วยวิธีการนำกลับมาใช้ใหม่ IP ขั้นสูงการตรวจสอบการปฏิบัติตามข้อกำหนดในการออกแบบสำหรับ SI/PI และกฎกระบวนการจะช่วยลดการวิเคราะห์และการทำซ้ำการลงชื่อออก

โซลูชันนี้ตรวจสอบ netlist ชุดประกอบแพคเกจกับ netlist อ้างอิง “สีทอง” เพื่อให้แน่ใจว่าการทำงานถูกต้องใช้เวิร์กโฟลว์อัตโนมัติพร้อมการตรวจสอบอย่างเป็นทางการตรวจสอบการเชื่อมต่อระหว่างอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ทั้งหมดในไม่กี่นาทีเพื่อให้แน่ใจว่ามีความแม่นยำและประสิทธิภาพสูง

โซลูชันความร้อนครอบคลุมทรานซิสเตอร์ไปจนถึงระดับระบบ และมาตราส่วนตั้งแต่การวางแผนในช่วงต้นไปจนถึงการลงชื่อระบบ เพื่อการวิเคราะห์ความร้อนในระดับการตายโดยละเอียดพร้อมเงื่อนไขแพ็คเกจและขอบเขตที่ถูกต้องลดต้นทุนโดยลดความต้องการชิปทดสอบและช่วยระบุปัญหาความน่าเชื่อถือของระบบ
.png?auto=format,compress&fit=crop&crop=faces,edges&w=640&h=360&q=60)
ข้อมูลไลบรารีและการออกแบบที่เฉพาะเจาะจง eCADรับประกันความปลอดภัยและความสามารถในการตรวจสอบย้อนกลับของข้อมูล WIP ด้วยการเลือกส่วนประกอบ การกระจายห้องสมุด และการนำโมเดลกลับมาใช้ใหม่การผสานรวม PLM ที่ราบรื่นสำหรับการจัดการวงจรชีวิตผลิตภัณฑ์ การประสานงานการผลิต การร้องขอชิ้นส่วนใหม่ และการจัดการสินทรัพย์

รองรับมาตรฐาน IEEE เช่น 1838, 1687 และ 1149.1ให้การเข้าถึงแบบเต็มรูปแบบสำหรับการใช้ในแพ็คเกจ การตรวจสอบการทดสอบเวเฟอร์ และขยาย 2D DFT เป็น 2.5D/3D โดยใช้ Tessent Streaming Scan Network เพื่อการรวมที่ราบรื่น

ลดเวลาที่ใช้ในการพัฒนาและบำรุงรักษาแบบจำลองการทำงานของบัสแบบกำหนดเอง (BFM) หรือส่วนประกอบการตรวจสอบ Avery Verification IP (VIP) ช่วยให้ทีม System และ System-on-Chip (SoC) บรรลุผลการปรับปรุงประสิทธิภาพในการตรวจสอบอย่างมาก

แพลตฟอร์ม Solido Intelligent Custom IC ซึ่งขับเคลื่อนด้วยเทคโนโลยีที่รองรับ AI ที่เป็นกรรมสิทธิ์นำเสนอโซลูชันการตรวจสอบวงจรชั้นนำที่ออกแบบมาเพื่อตอบสนองความท้าทายของ IC 3D ตอบสนองความต้องการความสมบูรณ์ของสัญญาณ พลังงาน และความร้อนที่เข้มงวดและเร่งการพัฒนา

ตรวจสอบความน่าเชื่อถือในการเชื่อมต่อระหว่างกันและความยืดหยุ่น ESD ด้วยความต้านทานแบบจุดต่อจุด (P2P) ที่ครอบคลุมและการวัดความหนาแน่นของกระแส (CD) ทั่วทั้งแม่พิมพ์ อินเตอร์โพเซอร์ และแพคเกจคำนึงถึงความแตกต่างของโหนดกระบวนการและวิธีการของ ESD ด้วยการเชื่อมต่อระหว่างอุปกรณ์ป้องกันที่แข็งแกร่ง
ชิปเลตได้รับการออกแบบด้วยความเข้าใจที่จะเชื่อมต่อกับชิปเล็ตอื่น ๆ ภายในแพ็คเกจความใกล้ชิดและระยะการเชื่อมต่อที่สั้นลงหมายถึงการใช้พลังงานน้อยลง แต่ยังหมายถึงการประสานตัวแปรจำนวนมากขึ้นเช่นประสิทธิภาพการใช้พลังงาน แบนด์วิดธ์ พื้นที่ ความล่าช้า และพิทช์
การเพิ่มประสิทธิภาพร่วมสำหรับพลังงาน ประสิทธิภาพ พื้นที่ ต้นทุน และความน่าเชื่อถือในซิลิคอน แพ็คเกจ อินเตอร์โพเซอร์ และ PCB
เสริมศักยภาพวิศวกรออกแบบด้วยเทคโนโลยีที่เข้าถึงได้ซึ่งช่วยลดการพึ่งพาผู้เชี่ยวชาญ
ความสามารถในการปรับขนาดในการจัดการและสื่อสารข้อมูลที่แตกต่างกันในทีมทั่วทั้งองค์กรและรักษาความต่อเนื่องทางดิจิทัล
กำจัดการทำซ้ำผ่านข้อมูลเชิงลึกเบื้องต้นเกี่ยวกับประสิทธิภาพดาวน์สตรีมและเอฟเฟกต์ของกระบวนการผ่านการตรวจสอบอย่างต่อเนื่อง
ทำความเข้าใจเทคโนโลยี 3D IC: เปิดเผยอนาคตของวงจรรวม ข
่าวประชาสัมพันธ์: ซีเมนส์ทำการออกแบบ 2.5D และ 3D IC โดยอัตโนมัติเพื่อทดสอบด้วยโซลูชัน Tessent Multi Die ใหม่
ปลดปล่อยประสิทธิภาพการออกแบบ 3D IC เอ >ติดต่อกับคำถามหรือความคิดเห็นเราอยู่ที่นี่เพื่อช่วย!