Tessent YieldInsight
Tessent Yieldinsight analyserar statistiskt diagnosdata för att identifiera och separera systematiska avkastningsbegränsare innan någon felanalys görs. Tessent Yieldinsight är specialiserat på att förstå och identifiera avkastningsförlust från skanningstestdata och gör volymdiagnosresultaten användbara.
Varför Tessent Yieldinsight?
Med hjälp av specialiserade tekniker för datautvinning och statistisk analys eliminerar Tessent Yieldinsight brus från diagnosdata för att fastställa de bakomliggande grundorsakerna, identifiera systematiska avkastningsbegränsare och välja de bästa enheterna för felanalys.
Identifiera dolda avkastningsbegränsare
Tessent Yieldinsight identifierar orsaken till systematisk avkastningsförlust och ger vägledning genom processen att välja matris för felanalys.
Ta bort buller från diagnosresultaten
Root Cause Deconvolution (RCD) -teknik tar bort brus från diagnosresultaten och bestämmer de bakomliggande orsakerna. Den väljer och filtrerar populationer av misslyckade tärningar och grupperar tärningar som misslyckas av liknande skäl.
Fungerar med Tessent Diagnosis
Analyserar de layout-medvetna och cellmedvetna diagnosresultaten från Tessent Diagnosis för att identifiera och separera systematiska avkastningsbegränsare innan någon felanalys görs, vilket eliminerar behovet av kostsam fysisk lokalisering.
En ny reversibel skanningskedjeteknik
Som värd för ASM International belyser detta gemensamma webinar mellan Siemens EDA och Qualcomm:
- Motivation för att använda kedjediagnos i avkastningsramp
- Översikt över kedjediagnos, reversibel kedja
- Reversibel kedjeteknik och diagnos
- Implementering av reversibla kedjor
- Kiselresultat från testchip
