Tessent SiliconInsight
Tessent SiliconInsight tillhandahåller en automatiserad interaktiv miljö för testkörning, felsökning och kiselkarakterisering av enheter som innehåller Tessent ATPG-, EDT-, BIST- och/eller IJTAG-teststrukturer.
Varför Tessent SiliconInsight?
Öka produktiviteten kraftigt under silikonvalidering och felsökning, vilket påskyndar tiden till marknaden. Tessent SiliconInsight-lösningen fungerar i en bänkmiljö och ansluts till alla felsöknings-, prestanda- eller bring-up-kort med åtkomst till upp till 120 enhetsstift.
Validera testmönster före första kisel
Validera testmönster före första kisel med hjälp av designen i en standardsimulator, injicera fel, karakterisera potentiella felscenarier utan kisel.
Lågkostnadskaraktärisering med hög tillgänglighet
Skrivbordsfelsökningsmiljö för ATPG, MBIST, LBIST och IJTAG genom åtkomst till upp till 120 enhetsstift med USB-adaptrar från tredje part. Shmoo kapacitet för kraft och klocka genom GPIB.
Länka kraften i IJTAG med ATE
ATE-connect-tekniken skapar ett branschstandardgränssnitt för att eliminera kommunikationsbarriärer mellan proprietär, testerspecifik programvara och DFT-plattformar (design-for-test).
Accelererande mönsteruppbyggnad på konstruktioner med högt antal stift
Lyssna när Ari Krantz, DFT-ingenjör på Broadcom, diskuterar accelererande mönsteruppbyggnad på design med högt antal stift, en industriell fallstudie med SiliconInsight-HP beta.
Övervinna avkastningsbarriärer med PDF Solutions och Siemens
Att bryta igenom avkastningsbarriärer och påskynda avkastningsrampen kräver nya lösningar som utnyttjar den bästa tekniken på marknaden. I det här webbseminariet introducerar Siemens och PDF Solutions tekniker en integrerad, heltäckande helhetslösning som inkluderar analys, skanningsdiagnos och maskininlärning.
