Tessent Diagnosis
Med hjälp av feldata från tillverkningstest, skanningstestmönster och designinformation identifierar Tessent Diagnosis platsen och klassificeringen av defekten som orsakar felet.
Varför Tessent Diagnosis?
Tessent Diagnose-lösningen identifierar typ och lokalisering av defekter och lägger grunden för diagnosstyrd avkastning och felanalys.
Identifiera defekter och tidsfel på rätt sätt
Använd layout-medveten och cellmedveten teknik för att bestämma en defekts mest sannolika felmekanism, logiska plats och fysiska plats.
Cellmedveten diagnos
Utför diagnos på transistornivå för att identifiera defekter i standardceller. Denna funktion utnyttjar samma cellmedvetna felmodell som används för cellmedveten ATPG och fungerar med alla mönstertyper.
Högupplöst kedjediagnos
Förbättra diagnosen med > 1,5x på avancerade processnoder (5nm och lägre). Ger exakt isolering på transistornivå för skanningskedjedefekter. Säkerställer att djupa punktdefekter kan isoleras med precision.
Korrelera med DFM-analys
Diagnosresultat kan korreleras med DFM-analysresultat för att identifiera kritiska designfunktioner. Tessent Diagnosis kan läsa resultatdatabaser (RDB) från Calibre.
Tillförlitlig teknik
Tessent Diagnosis är marknadsledande inom scanningdiagnosteknik med högsta noggrannhet. Mer än 80% av rapporterna som genererats med hjälp av Tessent Diagnosis har bekräftats med hjälp av en felanalysprocess.
Förbättringar av kedjediagnos med Tessent-teknik
Jayant D'Souza, Senior Product Manager på Tessent berättar om att utnyttja Tessents högupplösta kedjediagnosteknik för att förbättra avkastningen för att möta tidsfrister genom att hitta mer systematiska defekter och förbättra upplösningen med upp till 80%.
